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全球领先的测量解决方案提供商——泰克公司日前为开放的NAND闪存接口(ONFI)标准推出业内第一个测试解决方案。ONFI 4.0测试解决方案适用于泰克高性能示波器，包括在ONFI总线上分析DDR2/3模式的软件，以及基于插补器 (Interposers)的高效探测解决方案。 ONFI标准由ONFI工作组发布，旨在简便于把NAND闪存整合到消费电子和计算平台中。ONFI 4.0规范引入不断进化的NV-DDR3接口，其工作电压为VccQ = 1.2V，不仅提高了性能，还改善了功耗，并把NV-DDR2和NV-DDR3 I/O速度扩展到667 MT/s和800 MT/s，增加了ZQ校准功能。由于速度提高和电压下降，处理ONFI总线的设计人员面临着诸多挑战，如保证一致性，调试定时问题，获得信号。通过TEK-PGY-ONFI软件，设计和测试工程师可以测试ONFI接口是否满足ONFI总线定时参数，并自动测量Command、Address、Data in和Data out业务。TEK-PGY-ONFI软件中的细节视图功能通过进行标注，把ONFI波形的每个电气测量指标与模拟波形关联起来，帮助用户调试定时问题。密集封装和高数据速率给NAND闪存器件中的高保真信号接入带来了挑战。泰克支持各种不同的机械外形，包括带有插口的探头设计、直接连接探头设计、已获专利的边缘探头设计，可以满足异常紧张的机械要求。其提供了插补器 (Interposers)和探头S参数模型，用于建模或生成应用到示波器中的反嵌滤波器。 TEK-PGY-ONFI软件在带宽为4GHz -33GHz的泰克MSO/DPO70000系列示波器上运行，推荐在测试中使用P7500或P7300系列探头。有些客户在进行ONFI测试时，可能很难或根本不能接入信号，因此泰克推荐使用Nexus开发的ONFI 152球形NAND Flash Edge高保真插补器 (Interposers)，实现信号接入，同时保持信号完整性。 “这种ONFI测试解决方案为客户提供了所需的洞察力，使他们能够更快、更加满怀信心地把基于内存的产品推向市场。”泰克科技公司高性能示波器总经理Brian Reich说，“与手动测试相比，这一解决方案明显缩短了一致性测试时间，简化了调试工作，最终提升了生产效率。” 最新推出的TEK-PGY-ONFI软件完善了泰克为其他内存技术提供的全面解决方案，包括eMMC, UFS和DDRA。 
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