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这篇文章主要介绍 ARM JTAG 调试的基本原理。 基本的内容包括了 TAP (TEST ACCESS
PORT) 和 BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE 的介绍， 在此基础上， 结合 ARM7TDMI 详细 介绍了的 JTAG 调试原理。 这篇文章主要是总结了前段时间的一些心得体会， 希望对想了解 ARM JTAG 调试的网友们 有所帮助。 
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