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3D OM (3D Optical Microscope)原理是藉由一般可见光对物体表面之反射特性,透过光学的透镜放大、缩小及CCD来撷取影像,可进行表面形貌的观察与尺寸的分析量测。
3D OM (3D Optical microscope)具有高景深、大景深、倾斜角度检测优势和先进的量测功能,可针对各种不同高度的待测物体,进行多角度的全面对焦,并获得清晰的影像进行观察。适合进行元器件焊接检验与失效分析。 宜特拥有高分辨率的3D OM,具备高景深功能,不论景深多深,也能实现全对焦、超高速影像连接功能,且镜头可用手持的方式进行观测。 应用范围: 元器件芯片封装检验的缺陷,如:外观表面完整性、黑胶的裂痕、引脚变形或变色。印刷电路板制程中可能产生的缺陷,如﹕结瘤、织纹显露、玻纤曝露、防焊漆、字样。各式电子产品中可能产生的缺陷,如:焊接吃锡不良。锡球数组封装及覆芯片封装中锡球的完整性检验,如﹕锡球变形。各式主、被动组件外观检测分析。各种材料分析量测。 |
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