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近端相噪一般是由参考源、电源噪声主导的,建议您核查这两个方面。测试参考源的相位噪声,估算其对锁相环输出相位噪声的影响(20*logN),然后与测试结果比较。或者换用低噪声的电源模块试一试,例如ADP150
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dang28 发表于 2018-11-13 16:34 晶振是OCXO性能很好,电源直接由安捷伦公司的直流电压源接入。 |
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把晶振的相位噪声曲线和PLL输出的相位噪声曲线发出来看看呢?另外,您用的那个鉴相器芯片?除了前面说的两种原因外,其他数字低频干扰信号或地上的噪声也会恶化近端噪声。以这个电源为例,http://cp.literature.agilent.com/litweb/pdf/5968-7355CHCN.pdf ,电源直接出来的噪声比经过LDO后的噪声差。 |
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dang28 发表于 2018-11-13 16:58 这回复,看着满满都是泪。看来有人在这台电源上栽过跟头。 |
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dang28 发表于 2018-11-13 16:58 鉴相器4106,本来刚开始测试时达到-103dBc@1KHz左右,后来测试多了加的器件多了,共用电源的情况多了后(比如5V的电源要同时供给晶振,4106,放大器等),PCB板子上没有稳压芯片,电源直接介入芯片,近端相噪会跳动很厉害从-80多到-100多等。是电源的问题? 由于数据是跳动的无法保存。 |
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CQuin 发表于 2018-11-13 17:25 尽量不要把PLL与其他可能产生噪声或干扰的芯片一起供电。 |
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