如何通过矢量网络分析仪，得知电子校准件的实际性能？

电子校准件超差（OOT）现象越来越多

下面是是德科技通过分析客户的2000个电子校准件之后得到的案例分析结果：超过三年没有经过校准的电子校准件与每12个月校准一次的电子校准件相比，OOT比率高3倍。

VNA测量结果

开始变得不准确
上图显示了已经出现超差(OOT)的电子校准件对VNA测量结果的影响。蓝色曲线表示使用正常的电子校准件获得的测量结果。橙色曲线表示使用已经出现超差的电子校准件获得的测量结果。这个已经出现超差的电子校准件存在连接器缺陷，而且五年没有经过校准。注意，橙色曲线发生位移，而且有一部分超出了史密斯圆图。如果您的VNA使用这个电子校准件，那么测量结果会出现明显的误差。

产生这些OOT(校准超差)的原因，一个是电子校准件内部标准发生了变化，另一个是不正确的处理方式导致连接器受到损坏。

· 内部标准：电子校准件阻抗标准件的特征受老化率、漂移等因素的影响会发生变化。为了达到电子校准件的性能技术指标，必须定期更新电子校准件内置存储器中保存的阻抗标准件S参数数据。
· 连接方式：有缺陷或受到损坏的连接器会降低电子校准件的性能，进而影响您的测量结果的准确性。下图显示了完好连接器与受损连接器的对比示例。

总的来说，我们如何得知电子校准件的实际性能？

坚持每12 个月校准一次电子校准件，定期更新电子校准件内置存储器中保存的阻抗标准件S 参数数据。在校准服务期间，原厂技术人员还会用肉眼、借助机械、以及使用电子工具来检查连接器，然后清洁连接器。