1
完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦, 立即完善>
扫一扫,分享给好友
微光显微镜EMMI可广泛应用于侦测各种芯片组件缺陷所产生的漏电流,包括闸极氧化层缺陷、静电放电破坏、闩锁效应、漏电、接面漏电 、顺向偏压及在饱和区域操作的晶体管,可藉由EMMI定位,找热点或找亮点)位置,进而得知缺陷原因,宜特实验室可帮助后续做进一步的失效分析。
|
|
相关推荐 |
|
只有小组成员才能发言,加入小组>>
【电路设计】+ 双口RAM芯片测试模块(MSP430F122+MAX491)
2066 浏览 0 评论
3011 浏览 0 评论
2898 浏览 0 评论
3277 浏览 0 评论
10533 浏览 5 评论
887浏览 1评论
小黑屋| 手机版| Archiver| 德赢Vwin官网 ( 湘ICP备2023018690号 )
GMT+8, 2024-12-22 12:10 , Processed in 0.673512 second(s), Total 76, Slave 58 queries .
Powered by 德赢Vwin官网 网
© 2015 bbs.elecfans.com
关注我们的微信
下载发烧友APP
德赢Vwin官网 观察
版权所有 © 湖南华秋数字科技有限公司
德赢Vwin官网 (电路图) 湘公网安备 43011202000918 号 电信与信息服务业务经营许可证:合字B2-20210191 工商网监 湘ICP备2023018690号