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您好，我正在使用PNA-X中SOLT标准定义的测量数据选项。
我准确地描述了一个短的，开放的，负载的，有限长度的1000um - 所有在晶圆上。 在表征标准时，测量参考平面从探针尖开始500um。 - 请问在PNA-X的SOLT校准结束时定义的参考平面在哪里，它是否是这个例子的THRU标准的中心？ - 通常，当使用测量的标准定义时，在PNA-X的SOLT校准结束时如何定义参考平面？ 谢谢，尼克编辑：nickmmw于2012年4月6日下午4:24编辑：nickmmw于2012年4月6日下午4:26 以上来自于谷歌翻译 以下为原文 Hello, I am using the measured data option for the SOLT standard definitions in the PNA-X. I have accurately characterized a short, open, load, and finite-length thru that is 1000um - all on wafer. While characterizing the standards, the measurement reference plane started at 500um from the probe-tip. - May I please ask where is the reference plane defined at the conclusion of the PNA-X's SOLT calibration, would it be at the center of the THRU standard for this example ? - In general, how is the reference plane defined at the conclusion of the PNA-X's SOLT calibration, when using measured standard definitions ? thank you, Nick Edited by: nickmmw on Apr 6, 2012 4:24 PM Edited by: nickmmw on Apr 6, 2012 4:26 PM 
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3个回答
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有几个版本的SOLT;
最常用的是“未知的”。 如果您使用测量的SOL（基于数据的校准标准），则不需要表征直通，并且将被视为未知的直通。 参考平面由SOL标准设置。 据我所知，我们不支持将测量值作为基于数据的标准。 但是，通过未知直通校准，直通的值无关紧要。 以上来自于谷歌翻译 以下为原文 There are several versions of SOLT; the most commonly used is "unknown thru". If you use measured SOL (data-based calibrations standards), the thru needn't be characterized, and will be treated as an unknown thru. The reference plane is set by the SOL standards. To my knownledge, we don't support a measured thru as a data-based standard. But the value of the thru doesn't matter with the unknown-thru calibration. |
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谢谢Joel博士。 我们可以选择使用THRU标准的测量数据。 有没有办法确定它是否受支持？ 目前，我们目前使用该模型进行SOL的测量和测量数据。 我们在晶圆上，我们的THRU在微带线中通常约为1000um，结果表明该模型在我们的基板技术中在> 90 GHz时表现不佳。 谢谢。 以上来自于谷歌翻译 以下为原文 Thank you Dr. Joel. We would greatly benefit of having the option of using measured data for the THRU standard. Is there a way to find out for sure if it is supported ? Right now, we currently use the model for the thru and measured data for SOL. We are on wafer, our THRU is typically ~ 1000um in microstrip, it turns out that the model does not perform well at > 90 GHz in our substrate technology. thank you. |
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如果您有SOL标准，为什么不使用未知的thru方法。 带有thrus的晶圆上测试正是为其创建未知直通（也称为SOLR - 短开路负载倒数）的应用。 也许您没有意识到您不需要知道通过数据进行完整的2端口校准？ 以上来自于谷歌翻译 以下为原文 If you have SOL standards, why not use the unknown thru method. On-wafer test with thrus was exactly the application for which the unknown thru (also known as SOLR - short open load reciprocal) was created for. Maybe you didn't undestand that you don't need to know the data for the thru to do a full 2-port calibration? |
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