[问答]

移动电源UL2056测试报告怎么做？移动电源UL2056测试流程

1688

问答对人有帮助，内容完整，我也想知道答案 0 美国是一个对安全要求非常严格的国家，美国本土的所有电子产品生产企业早在很多年前就要求有相关安规检测。而随着亚马逊在全球商业的战略地位不断提高，境外的电子设备通过亚马逊不断涌入美国市场，美国对境外的电子产品生产企业并没有强制性的安规检测。之前发生了一系列的电子产品起火事件，针对这个情况，2017年9月24号美国相关部门发布了专门针对电商的法律，要求亚马逊有义务通知在亚马逊平台上销售的境外电商提供相关安规报告，在未提交UL标准的检测报告之前，亚马逊必须责令商家停止销售。并且要求检测报告必须是ISO17025/ILAC ISO 17025标准认可的实验室出具的合格报告。亚马逊常见的一些UL标准和测试内容　　电源适配器UL60950-1测试报告　　UL60950-1是IT类电源的一个北美安规标准，主要是针对电源的温升、耐压、绝缘等提出的要求。不同的产品，不同的地区有不同的安规标准。　　锂电池组UL2054测试报告　　UL2054的测试项目主要包括电测试（短路测试、过充测试、滥用过充测试、过放测试、限功率源测试）、机械测试（挤压测试、冲撞测试、加速度测试、振动测试）电池组外壳测试、跌落撞击测试、250N静力测试、模具压释放测试、火烤测试、抛射测试、环境测试、高温测试、温度循环测试等。　　电芯UL1642测试报告　　UL1642的主要测试项目包括室温短路测试，55度短路测试，过充测试，挤压测试，重物冲击测试，机械冲击测试，振动测试，热箱测试，温度冲击测试，高空模拟测试，弹射测等。　　其他的还有诸如车充UL2089、移动电源UL2056、音视频UL62368、数据线UL9990、电咖啡壶UL1082、挂烫机UL1005、家用类似电器UL60335、LED显示屏UL48、坐垫加热器UL130、蒸汽清洁器UL499、电风扇UL507、个人护理UL859... 电子电器设备不做UL标准的检测报告，最严重的后果是什么? 　　电子设备不做北美安规报告最严重的后果并不是被亚马逊封锁list ，而是在商家卖得很好的前提下，被竞争对手盯上，竞争对手购买该商家产品，如果产品没有相关标准的安规报告，　　竞争对手会委托美国律师给亚马逊发信，要求停止销售该公司的产品，并且申请法庭程序，销毁该公司在亚马逊的所有产品。此时商家不仅损失了所有库存，而且需要付律师信的费用和销毁产品的费用，这可能意味着这个公司基本上被赶出北美市场。 UL测试报告费用多少？　具体费用要看具体产品功能，不同产品的测试项目不一样，所以费用也不一样。办理UL测试报告周期需要多久？　　一般5-7个工作日，如果测试不通过需要提供样品重测。时间累计。 UL测试报告的有效期是多久？　　所使用的美国UL测试标准没有更新的前提下，UL测试报告是长期有效的。 0
2020-8-11 21:25:16　　评论淘帖0 邀请回答您可以邀请以下用户，快速回答问题 × 钟立华该类别下有 26 个回答。邀请回答 ancitest 该类别下有 24 个回答。邀请回答深圳迈科检测该类别下有 16 个回答。邀请回答可靠的奇哥该类别下有 6 个回答。邀请回答杨帆该类别下有 4 个回答。邀请回答 3264503597 该类别下有 3 个回答。邀请回答龙先生该类别下有 3 个回答。邀请回答 2537063201 该类别下有 3 个回答。邀请回答 h1654155974.9484 该类别下有 3 个回答。邀请回答 h1654156014.3247 该类别下有 2 个回答。邀请回答 EMChenry 该类别下有 2 个回答。邀请回答 jie19 该类别下有 2 个回答。邀请回答北测检测该类别下有 2 个回答。邀请回答卢重熹该类别下有 2 个回答。邀请回答龙祥武该类别下有 2 个回答。邀请回答 gdszliao 该类别下有 1 个回答。邀请回答 antek8899 该类别下有 1 个回答。邀请回答朱庆生该类别下有 1 个回答。邀请回答 h1654155962.5110 该类别下有 1 个回答。邀请回答啨湜凊该类别下有 1 个回答。邀请回答举报 h1654156014.3247 相关推荐 • 移动电源UL认证 3775 • 便携电源UL2743：2018安全标准测试报告办理要怎么办理？ 1962 • 移动电源做加州65测试需要提供什么资料？ 2280 • 汽车动力电池颁发第一张UL2743证书 6042 • 您的完备移动电源解决方案 2435 • 求移动电源的测试参数及测试方法 2712 • 移动电源PSE测试项目有哪些 824 • S32K146的ESD/Ultimate pressure/avalanche tolerance的测试报告如何获取？ 273 • 移动电源放电 5491 • 跪求各种电子器件的性能参数测试报告 2832