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[td]LDO流片回来后测试,正常状态下输出VOUT=3.3V,一切特性(环路稳定性,负载调整,线性调整,功耗,PSRR)正常。
但在两种情况下会偶发性出现输出VOUT=4V的异常现象: 1.输出VOUT不断热插拔且不限制负载源的电流能力,如果负载源电流能力限制在30mA以内,则不会出现异常。 2.快速重复断电上电,断电后VOUT电压会缓慢下降,如果VOUT电压还没降到1V以内时上电,特别容易出现异常现象。 正常时VOUT=3.3V,拉10mA负载VOUT几乎不变。 在异常情况下的现象:空载时VOUT=4V,拉10mA负载VOUT3.6V,拉300mA时VOUT接近0V,切换到空载VOUT升回到4V。从异常的状态掉电并等待VOUT电压掉为0后,上电输出正常(由此考虑异常状态只是一个简并态)。 已做的分析: 电路无论怎么仿真,也复原不了测试的现象。版图检测,所有rule都没有违反,没有自己造器件,全使用的标准库里的东西。ESD,功率管,衬底接触等都没问题。 排除的可能: 1.内部基准电压,已做FIB等测试和分析,排除基准电压的异常。 2.在5V输入时也会出问题,排除器件耐压的问题。 自己的猜测:掉电以后,VOUT>VIN,VOUT通过PMOS功率管的body diode走电流到VIN,此时上电会异常。VOUT在突然切载时,小概率会异常。两个情况都和P型功率管有关,会不会是功率管LDPMOS出了问题? 其他补充:每颗芯片都会出现异常现象,Ahuja补偿,功率管为高压LDPMOS,芯片3个引脚(VIN,VOUT,GND),整体功耗10uA,工艺是大家都在用的工艺比较可靠。 有没有大牛遇到过类似现象分享一下经验,小弟在此谢过了。 |
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4个回答
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FIB已经确认在输出4V的情况下,基准电压正常吗?
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看起来LDO环路的启动行为受输出点VOUT的放电行为影响比较大,简并态也是大概率出现在这个条件下的。要细致看一下带隙基准的启动电路和VOUT之间是怎么相互作用的。
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FIB已经确认在输出4V的情况下,基准电压正常吗? 是的,确认过了。而且,假设是基准电压异常导致的,负载调整率不应该受影响变差,所以从在输出4V时负载调整率明显变差,也可以证明不像是基准电压变了。 |
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看起来LDO环路的启动行为受输出点VOUT的放电行为影响比较大,简并态也是大概率出现在这个条件下的。要细致 ... 启动电路没有用电容或者开关来做,是一个类似二极管接法的MOS串联电阻的结构,换句话说启动电路就是一个随VIN变化的直流偏置,所以只要VIN上电了,VOUT就影响不了这个偏置电路。不过有个担心点,为了功耗要求,电阻50M欧姆左右,不知道这个量级的电阻对电路来说会不会有什么影响。 |
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