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码密度法测试ADC的INL和DNL时输入正弦波的频率和采样频率，采样点有什么关系？需要采样的周期是怎么确定的？
看了美信AN2085里面举了个例子，测MAX1193,8BIT，采样频率45M，输入信号频率5.6018M， 这不是一个周期只采样45/5.6018=8次？8bit256个台阶，每个台阶都采样不到一次？ 
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3个回答
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45/5.6018=8只是说明采样频率是信号频率的8倍。如果只采样信号的一个周期，的确会出现你说的情况。但是实际测试中，我们不可能只采样一个信号周期，而是采样N多个周期，即采样N多个点，才能采样到各个台阶。至于到底采样多少个数，MAXIM上面也有提到，是现成的公式，你可以看看。
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在用sine wave做ADC测试静态特性时要注意的是：
1.相干采样（不过实际测试时因为有输入噪声，应该不会采到重复的点，不过最好能保证，无非就是调整仪器频率比较麻烦点） 2.采样的数据点数要足够多（对于10bit的ADC，最好采样点数大于200万点），当然这个取决于你需要的测量精度，本来这种码密度的算法就是靠概率统计来得出的。点太少了，测量结果就不可信了。 |
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请问下如果用码密度法的话，输入信号的条件和测试动态参数的sine要求一样吗？
如果要满足 Fs/N=Fin/M 关系的话，N=200万，那输入信号Fin频率不就要很小了哈？多谢指点！ |
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