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在测试测量设备开发应用中，如何实现信号链DC Offset的补偿，以及如何获得高精度灵活可调电压输出一直都是系统设计者需要克服的困难。在本文中，我们将探讨ti新一代多通道DAC——DAC80508在诸如示波器、电池测试系统等测试测量设备中的实现上述功能的优势。TI的最新一代DAC产品，可在需要小尺寸和高性能要求的情况下实现高密度和多通道精确电压输出的解决方案。如今市场上的测试测量设备例如电池测试设备Battery Tester，数字示波器DSO，以及半导体测试仪器ATE等都会有多通道模拟参考电压输出的需求。而目前的DAC也存在一些缺点：高噪声，高功耗，缺乏灵活性等。这些缺点可以通过使用TI新一代DAC0508来克服。如图1所示是TI新一代DAC80508与市场已有方案的一些基本参数的对比。…
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