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Xilinx FPGA入门连载38：SRAM读写测试之设计概述

rousong1989

2015-12-18 12:57:01 3561

0 `Xilinx FPGA入门连载40：SRAM读写测试之设计概述特权同学，版权所有配套例程和更多资料下载链接： http://pan.baidu.com/s/1jGjAhEm 1 功能简介如图所示，本实例每秒钟定时进行一个SRAM地址的读和写操作。读写数据比对后，通过D2 LED状态进行指示。与此同时，也可以通过chipscope pro在ISE中查看当前操作的SRAM读写时序。 2 模块划分该实例的工程模块划分层次如图所示。 ● Sp6.v是顶层模块，主要完成各个子模块例化、相互接口的互联。 ● Pll_controller.v模块是IP核，例化PLL功能完成时钟的倍频、分频管理。 ● Test_timing.v模块产生SRAM的遍历读写请求，比对写入和读出的SRAM值是否一致，结果赋值给LED指示灯。 ● Chipscope_debug.cdc模块引出设计模块内部信号，在chipscope下可以在线观察SRAM的读写时序。 ` 0
2015-12-18 12:57:01　　评论淘帖0 举报相关推荐 • Xilinx FPGA入门连载40：SRAM读写测试之chipscope在线调试 2926 • Xilinx FPGA入门连载62：基于SRAM批量读写的UART bulk测试 5372 • Xilinx FPGA入门连载39：SRAM读写测试之功能仿真 3188 • Xilinx FPGA入门连载37：SRAM读写测试之时序解读 10107 • Xilinx FPGA入门连载67：VGA概述 3759 • 例说FPGA连载38：DDR控制器集成与读写测试之FPGA片内RAM概述 3278 • Xilinx FPGA入门连载66：基于UART收发的RTC读写 3440 • Xilinx FPGA入门连载24：PLL实例之基本配置 4839 • SRAM的读写操作概述 2850 • 基于SRAM技术的Xilinx FPGA 4370 3 个讨论