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现在测试治具中,探针是作为一个媒介,探针放在套管里,探针头接触待测物,另一端的套管引出线将信号传导出去,接收回来的信号在测试机里处理,比如电阻利用电流源计算探针两端的压降,电容以定电压源不同频率去计算充电时间的斜率,探针在制成治具时他有可连续使用的特性,且成本不高因此他在测试界一直被广泛使用。 探针的头型分为多种主要的是因为不同的测试点需不同的头型,比如dip脚使用多爪头型,测试pad点使用尖头、圆头或者平头,IC脚位使用梅花头形等全依靠有经验的制作人员依PCB成品上的零件去选取。 纳米化对探针来说只是材料的加强,对于测试治具的冲击是没有的,如果你有兴趣,对测试治具冲击应该是测试仪器部分,比如AOI检测。 |
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