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一文详细了解TH2851系列阻抗分析仪

同惠电子 来源:同惠电子 作者:同惠电子 2022-05-09 16:10 次阅读

TH2851系列阻抗分析仪是常州同惠电子采用当前先进的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器,为国产阻抗测试仪器的最新高度。

TH2851系列阻抗分析仪彻底颠覆了传统国产仪器复杂繁琐的操作界面,基于Windows10操作系统,实现了全电脑化操作界面,让测试更智能、更简便。

TH2851系列阻抗分析仪也彻底超越了国外同类仪器120MHz的频率瓶颈;解决了国外同类仪器只能分析、无法单独测试的缺陷;中英文操作界面也解决了国外仪器仅有英文界面的尴尬;采用单测和分析两种界面,让测试更简单。

快达2.5ms的测试速度、及高达100MΩ的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测量要求,特别有利于低损耗(D)电容器和高品质因数(Q)电感器的测量。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响,将低阻抗测试能力的下限比常规五端配置的仪器向下扩展了十倍。

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A. 高精度

自动平衡电桥技术的应用,得以在10Hz-130MHz频率、1mΩ-100M的阻抗范围内都能达到理想的测量精度,其中最高精度达0.08%,远远高于射频反射测量法的阻抗分析仪、网络分析仪的精度。

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B. 高稳定性和高一致性

下图是在速度5、测试频率1MHz,测量100Ω电阻的曲线,由下图可见其轨迹噪声≦0.003%(≦±0.0015Ω)

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C. 高速度

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D. 10.1寸大屏,四种测量参数,让细节一览无遗

10.1寸触摸屏、1280*800分辨率,Windows10系统、中英文操作界面,支持键盘、鼠标、LAN、VGA/HDMI接口,带来的是无以伦比的操作便捷性。

大屏幕带来更多的好处是,可以把所有测试参数及分选参数、分选结果、功能选择等参数放置在同一屏幕,而且看起来绝不拥挤和杂乱,同时可以显示四种测量参数,四种测量参数任意可调。屏幕左边的按钮可以快捷选择8套测试参数

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E. 增强的列表扫描功能

可以最多设置1601点的列表扫描,每个点可以单独设置测试频率、测试电压、直流偏置等测试条件。

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F. 强大的分析图形界面


厂方销售 姚先生 15995792784(微信同号码)
1.本店为厂家直销(免费开票,可选顺丰发货,可选对公合同);
2.由于货量有限,业务员很多,本产品是否有现货请先向客服询问,以客服确认是否有货为准,不以页面展示的货量为准;本产品页面价格是本公司发布该产品文章时的定价,由于价格公司会根据市场变化而重新定价,本产品当前具体定价请先向客服询问,以客服确认为准;本页面的产品是本公司发布该产品文章时正在生产的产品,由于公司会根据市场变化而更新换代产品,由新产品代替老产品,所以本页面上的产品当前是否正在生产请先向客服询问,以客服确认为准;

最多通道可以最多显示4条曲线。通道和曲线各有十四种分屏显示方法

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G.分段扫描功能

最多可以4通道同时显示,每个通道可以最多显示4条曲线。通道和曲线各有十四种分屏显示方法。分段扫描是在一个扫描周期内,设置不同的频率分段进行扫描,扫描时可设置不同的电平及偏置,扫描结果直接图形显示,用于需要快速筛选多个频率段参数的扫描需求。

如晶体谐振器需要测试标称谐振/抗谐振频率以及其他杂散频率,通过分段扫描共呢个可在特定频率范围内扫描测量,无需扫描不相关频率。

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H.强大的光标分析能力

TH2851系列精密阻抗分析仪具有强大的光标分析能力,可以通过光标实现如下功能:

1. 读取测量结果的数值(作为绝对数值或者相对于参考点的相对值)

2. 查找曲线上的特定点(光标查找)

3. 分析曲线测量结果,计算统计数据

4. 使用光标值修改扫描范围以及纵坐标缩放

TH2851 可以在每条曲线上显示 10 个光标,包括了参考光标。

每个光标有一个激励值(坐标系 X 轴对应的数值)和响应值(坐标系 Y 轴对应的数值)。

光标查找功能允许搜索下列条件测量点:最大值、最小值

峰谷值: 峰值(极大值)、谷值(极小值)、光标左侧最近的峰谷值、光标右侧最近的峰谷值、多重峰谷值

目标值: 距离光标最近的目标值、光标左侧最近的目标值、光标右侧最近的目标值、多重目标值

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G.强大的图形分析功能

1) 曲线分选功能

可以对扫描曲线全部或者部分区域的测试值进行合格/不合格判断,常用于谐振曲线刷选如压电元件等谐振频率筛选。

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2)等效电路分析测试

现实生活中不同类型的器件可以被等效成简单的三参数四种模型、四参数三种模型的阻抗器件,等效电路分析测试功能提供了7种基本的电路模型用于等效这些器件。

可以通过仿真的等效电路参数值的阻抗拟合曲线与实际测量的阻抗曲线进行对比,还可以通过您输入的参数按照所选择的模型进行拟合。

等效的电路模型可以直接输出成TXT文档方便用户保存使用

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3) 晶体振荡器分析

对压电陶瓷等晶体进行测量以及性能分析,测量计算后获取晶体的谐振频率、反谐振频率、品质因数等重要参数。

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4) 曲线轨迹对比

曲线轨迹对比用于对被测件进行连续测量,所有曲线显示在同一个坐标系中。由下列两种应用:

a) 针对多种不同被测件

对比不同测量条件下的曲线轨迹

设置不同的频率点,计算出所有曲线在该频率点的测量值

b) 针对同一个被测件

对比同一个条件下测量的多次测量结果重复性

设置不同频率点,计算出所有曲线在该频率点的测量值。

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F.标配附件

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F.选配附件

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审核编辑:汤梓红

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