PFS122检测VDD及IO口的AD电压方法
PFS122是应广推出的一颗，可以多次烧录的2K程序空间的带数字12位AD转换的单片机。目前以高性价比重新获得用户的喜爱，其价格优势明显，比九齐的062E的价格，可能还更具有优势。
PFS122的AD转换相对于PMS132等来说，显得比较劣势，主要是因为IC不能接外部参考电压，也不提供内部的2V，3V, 4V等参考电压。这样在处理VDD处于变化的应用环境，比如锂电池应用，就显得没有那么方便。
在处理VDD方面，也就是获取锂电池电压的时候，还有个别工程师的设计是使用两个电阻分压，再利用一个IO口去采集分压点来处理。这样处理用是能用，但是显得很不经济，也浪费IO口，甚至还浪费静态功耗。PFS122内部提供的参考电压1.2V，就是专门用来获取VDD电压的。也就是说1.2V相对来说是稳定的，那么不同的VDD电压，采集到稳定1.2V时，所得到的AD转换结果是不一样的，但是遵循比例：VDD/1.2V=4096/Nbg.
由上面的比例可以得到VDD =4096*1.2V/Nbg=4096*12000mV/Nbg
=4915200mV/Nbg=((4b0000)hex)mV/Nbg,（1）
Nbg:是使用VDD做AD转换的参考电压，采用内部特殊通道1.2的标准电压所得的数值。
在获取IO的电压时，我们可以同样利用比列来计算，计算的基础是
;Vbg/VDD=Nbg/4096------------------（2）
;Vin/VDD=Nin/Nvdd=Nin/4096------- （3）
两个比列相除，可以消掉VDD和4096，得到Vin=(Nin/Nbg)*Vbg
;VIN=(Nin/Nbg)*Vbg=(Nin/Nbg)*1200=Nin*1200/Nbg=0x4b0*Nin/Nbg（4）
因此，只要有Nin和 Nbg的AD转换数值，就可以得到IO口的实际输入电压是多少。由公式（1）和公式（4），可以看出要得到VDD和Vin的实际电压，需要用到运算方式，三字节除以2字节，两字节乘以两字节的运算。对于习惯了MINI-C开发的用户来说，这些运算处理方式可以在“程序助手”中的/进阶实例/数据运算中获取。
EWORDdiv_src3;//被除数（商）
WORDdiv_val2, div_res2;//除数，余数
voidEWord_Div_Word (void)
{//div_src3[E] / div_val2[W]=div_src3[E] * div_val2[W] + div_res2[W]
BYTEdiv_cnt, div_tmp;
div_cnt=8;
div_res2=0;
do
{
div_src3<<= 1;
div_res2<<<= 1;
div_tmp<<<= 1;
div_cnt++;
A=(div_res2 - div_val2) >> 8;
if (div_tmp.0 || ! CF)
{
div_res2$1=A;
div_res2$0-=div_val2$0;
div_src3.0=1;
}
} while (! div_cnt.5);
}
//--------------------------------------------------------------------------------//
//程序说明:
//一个16位变量（范围0~65535）与一个定值（500，范围0~65535）相乘
//两个乘数可以为定值，也可为变量
//同为定值时可直接用“*”运算符
//注意事项:
//1.案例为PMS154C，其他芯片可直接使用
//********************************************************************************//
#include"extern.h"
DWORDmul_t4;
WORDmul_x2;
WORDmul_y2;
voidWord_Mul_Word (void)
{//mul_t4[D]=mul_x2[W] * mul_y2[W]
mul_t4$3=0;
mul_t4$2=0;
BYTEcnt;
cnt=16;
do
{
mul_x2>>=1;
if (CF)
{
mul_t4+=(mul_y2 << 16);
}
mul_t4>>>=1;
} while (--cnt);
}
但是对于一些不熟悉MINI-C的工程师朋友来说，用汇编弄起来就可能有点难度了。那也没有关系，你打赏我吧，我花了一些时间，整理了一些汇编的参考程序, 哈哈（~0~）。
汇编写起来比较累人，参考一下，16进制转10进制的汇编吧。
;-------HEX to BCD subroutine-------------------------
; Name:hex2bcd
; Input:temp0(H), temp1(L)
; Output:temp3(H), temp4(M),temp5(L)
; Stack level:2
; Function:16-bit-hex to 5-bit-dec
; Temp reg:temp2(counter register),temp6,fpp0_index
; Argument:
;--------------------------------------------
hex2bcd:
clear hb@fpp0_index
mov a, 0x10
mov temp2, a
clear temp3
clear temp4
clear temp5
set0 flag_c
shift:
slc temp1
slc temp0
slc temp5
slc temp4
slc temp3
dzsn temp2
goto adjdec
ret
adjdec:
mov a, la@temp5
mov lb@fpp0_index, a
call adjbcd
mov a, la@temp4
mov lb@fpp0_index, a
call adjbcd
mov a, la@temp3
mov lb@fpp0_index, a
call adjbcd
goto shift
adjbcd:
;---------------------------------
; mov a, 0x22
;idxm fpp0_index, a
;---------------------------------
idxm a, fpp0_index
add a, 0x03
mov temp6, a
t0sn temp6.3
idxm fpp0_index, a
idxm a, fpp0_index
add a, 0x30
mov temp6, a
t0sn temp6.7
idxm fpp0_index, a
ret 0x00
;-------------the end of hex2bcd---------------------
;-----------------------------------------------
;
;-------unsigned (eword)eint Div unsigned int-------------------
; Name:ueint_div_uint
; Input: temp2(D1H),temp3(D1M);temp4(D1L),temp5(D2H),temp6(D2L)
; Output: temp11(QH)temp12(QL),temp13(),
; temp7(remainer H),temp8(remainer L)
; Stack level:1
; Temp reg:temp0(bit count),temp1(bit0:flow flag),temp8(h),temp9(l)
; Function:unsigned eint div unsignedd int;D1/D2,
; Argument:
;--------------------------------------------
ueint_div_uint:
mov a, 0x18
mov temp0, a
clear temp9
clear temp7
clear temp8
ediv_loop:
sl temp4
slc temp3
slc temp2
slc temp8
slc temp7
slc temp9
t0sn temp9.0
goto evalid_bit
mov a, temp8
sub a, temp6
mov a, temp7
subc a, temp5
t0sn flag_c
goto einvalid_bit
evalid_bit:
mov a, temp6
sub temp8, a
mov a, temp5
subc temp7, a
set1 flag_c
goto eshift_result
einvalid_bit:
set0 flag_c
eshift_result:
slc temp13
slc temp12
slc temp11
dzsn temp0
goto ediv_loop
ret
;-----------------------------------------------
审核编辑：汤梓红
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原文标题：PFS122 检测VDD及IO口的AD电压方法
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