求一种基于TEM的抗扰度测试方案
D-TEM，既可以用来做抗扰度测试，也可以用来做EMI测试。ISO11452-3规定了采用具有横向电磁模式（The transversal electromagnetic mode）的 D-TEM cell来进行抗扰度测试的方法。
D-TEM 小室可以看成是同轴电缆的扩展，电缆的芯线演变成平面隔板，电缆的屏蔽层演变成矩形壳体，整个小室的几何尺寸使之阻抗依旧保持为50Ω。小室的中间是平面隔板，分成上下对称的两个相同体积的部分，如图1所示。
图1：上下对称的D-TEM小室
D-TEM小室的工作频率范围由小室的隔板与地之间的高度决定的，超过截止频率会有谐振现象；能够产生的场强大小是由隔板与地之间的距离以及施加的电压/功率决定的。
图2所示这款D-TEM，符合ISO 11452-3和CISPR 25的要求，隔板的高度是300mm, 可根据不同的标准的要求进行不同频率范围的测试。小室提供两排接线端子，根据实际走线情况，外接同轴滤波器使用。
全套测试系统，除了D-TEM，还需要有射频源，功率计，功放，场强探头，软件等构成。尽管在ISO11452-3里只提到采用计算法的测试方法，实际上，跟ISO11452-5带状线法一样，还可以利用场强探头，采用替代法和实时反馈法进行抗扰度测试，这3种方法我们的测试系统都支持。
审核编辑：刘清
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原文标题：ISO 11452-3：基于TEM的抗扰度测试
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