全方位了解IC芯片测试流程，IC芯片自动化测试平台分享-德赢Vwin官网网

在开始芯片测试流程之前应先充分了解芯片的工作原理。要熟悉它的内部电路，主要参数指标，各个引出线的作用及其正常电压。芯片很敏感，所以测试的时候要注意不要引起引脚之间的短路，任何一瞬间的短路都能被捕捉到，从而造成芯片烧坏。本篇文章纳米软件小编将带大家全方位了解IC芯片测试流程及IC芯片自动化测试平台。

一、集成电路芯片的测试（ICtest）分类：

1、晶圆测试（wafertest）

是在晶圆从晶圆厂生产出来后，切割减薄之前的测试。其设备通常是测试厂商自行开发制造或定制的，一般是将晶圆放在测试平台上，用探针探到芯片中事先确定的测试点，探针上可以通过直流电流和交流信号，可以对其进行各种电气参数测试。

2、芯片测试（chiptest）

是在晶圆经过切割、减薄工序，成为一片片独立的chip之后的测试。其设备通常是测试厂商自行开发制造或定制的，一般是将晶圆放在测试平台上，用探针探到芯片中事先确定的测试点，探针上可以通过直流电流和交流信号，可以对其进行各种电气参数测试。chiptest和wafertest设备Z主要的区别是因为被测目标形状大小不同因而夹具不同。

3、封装测试（packagetest）

packagetest是在芯片封装成成品之后进行的测试。由于芯片已经封装，所以不再需要无尘室环境，测试要求的条件大大降低。通常包含测试各种电子或光学参数的传感器，但通常不使用探针探入芯片内部（多数芯片封装后也无法探入），而是直接从管脚连线进行测试。由于packagetest无法使用探针测试芯片内部，因此其测试范围受到限制，有很多指标无法在这一环节进行测试。

二、不同芯片适用的测试

对于芯片面积大、良率高、封装成本低的芯片，通常可以不进行wafertest，而芯片面积小、良率低、封装成本高的芯片，Z好将很多测试放在wafertest环节，及早发现不良品，避免不良品混入封装环节，无谓地增加封装成本。

三、芯片测试的过程

芯片测试的过程是将封装后的芯片置于各种环境下测试其电气特性，如消耗功率、运行速度、耐压度等。经测试后的芯片，依其电气特性划分为不同等级。而特殊测试则是根据客户特殊需求的技术参数，从相近参数规格、品种中拿出部分芯片，做有针对性的专门测试，看是否能满足客户的特殊需求，以决定是否须为客户设计专用芯片。经一般测试合格的产品贴上规格、型号及出厂日期等标识的标签并加以包装后即可出厂。而未通过测试的芯片则视其达到的参数情况定作降级品或废品。

IC测试的设备，由于IC的生产量通常非常巨大，因此像万用表、示波器一类手工测试仪器是一定不能胜任的，目前的测试设备通常都是全自动化、多功能组合测量装置，并由程序控制，你基本上可以认为这些测试设备就是一台测量专用工业机器人。

四、芯片自动化测试平台

市面上芯片自动化测试系统五花八门，目前上市面上使用比较多的如ATECLOUD芯片自动测试平台。使用ATECLOUD芯片自动测试系统整个过程只需1.5~2分钟即可完成芯片诸多参数的测试，而采集数据与报告导出只需15秒即可完成，相比人工手动测试和记录报告效率提升50-100倍，同时只需一个懂仪器操作的人员即可完成测试，极大节省了人力成本。

审核编辑黄宇

声明：本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人，不代表德赢Vwin官网网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用，如有内容侵权或者其他违规问题，请联系本站处理。举报投诉

芯片

芯片

+关注

关注
455

文章
50714

浏览量
423113
自动化测试

自动化测试

+关注

关注
0

文章
208

浏览量
26905
IC

IC

+关注

关注
36

文章
5944

浏览量
175469

芯片封装IC载板

一、IC载板：芯片封装核心材料（一）IC载板：“承上启下”的半导体先进封装的关键材料IC封装基板（ICPackageSubstrate，简称IC

发表于 12-14 09:00 •224次阅读

IC测试基本原理与ATE测试向量生成

IC测试主要的目的是将合格的芯片与不合格的芯片区分开，保证产品的质量与可靠性。随着集成电路的飞速发展，其规模越来越大，对电路的质量与可靠性要求进一步提高，集成电路的

发表于 10-12 08:03 •944次阅读

【「数字IC设计入门」阅读体验】+ 数字IC设计流程

：将芯片设计结果交出去进行生产制造。上述这些只是芯片设计过程中的主要节点，细节还有很多，如果验证测试中不通过，就需要从数字前端设计开始找原因，之后再经历一次全流程

发表于 09-25 15:51

ic测试原理和设备教程的区别

IC测试原理和设备教程在内容、目的和关注点上存在显著的区别。 IC测试原理内容： IC测试原

发表于 09-24 09:51 •207次阅读

开关电源自动化测试设备：如何实现自动化测试？

开关电源自动化测试设备是将测试软件和测试硬件集成在一个电源测试柜中的ate自动测试设备，其

发表于 08-30 18:19 •1248次阅读

一文了解芯片测试的重要性

，贯穿设计、制造、封装以及应用的全过程，在保证芯片性能、提高产业链运转效率方面具有重要作用。IC测试贯穿整个集成电路产业链资料来源：基业常青IC测试

发表于 08-06 08:28 •1321次阅读

4644 DC-DC电源芯片测试项目大全

随着对电源芯片的性能和质量要求越来越高，自动化测试系统已成为电源管理芯片测试的重要组成部分。在电源芯片

发表于 08-01 17:47 •654次阅读

ATECLOUD智能云测试平台推动自动化测试发展

目前，ATECLOUD专注于为电源模块、电源管理芯片和射频组件测试提供自动化测试方案。同时，也支持定制开发，如电机驱动测试、元器件

发表于 07-26 15:26 •365次阅读

电源管理芯片输出端的纹波自动化测试方法

纳米软件为客户提供一站式自动化测试服务，工程师会根据要求创建好测试项目和方案，系统交付后客户直接运行方案就可以开始测试。通过对电源芯片的输出

发表于 07-17 17:10 •683次阅读

户外便携储能电源自动化测试系统高效完成电源测试

纳米软件电源自动化测试系统是基于ATECLOUD平台开发的、针对储能电源及其它电源模块的自动化测试系统方案。该系统实现0代码开发，对

发表于 07-08 16:44 •496次阅读

SMU数字源表测试IC芯片电性能方案

芯片测试作为芯片设计、生产、封装、测试流程中的重要步骤，是使用特定仪器，通过对待测器件DUT(DeviceUnderTest)的检测，区别缺

发表于 05-13 15:20 •552次阅读

纳米软件自动化测试合作：4644芯片与VPX模块测试

近日，纳米软件与西安广勤电子技术有限公司就4644电源芯片自动化测试和VPX电源自动化测试达成战略合作。在双方进行深入探讨后，纳米软件为广勤

发表于 05-09 15:49 •453次阅读

纳米软件分享：电源管理芯片自动化测试方案

芯片产线批量测试，不仅耗时长、无法规范测试流程、保证测试可靠性，而且无法进行数据统一管理、满足产线测试

发表于 04-23 13:47 •483次阅读

开关电源自动化测试系统如何简化测试流程

的研发和产线测试，为电源模块测试提供自动化测试方案。用该系统测试开关电源，只需以下操作即可完成：1. 登录

发表于 04-17 11:38 •413次阅读

电源芯片自动化测试系统有什么功能？如何解决某半导体公司测试难点？

大数据分析与报告。纳米软件电源芯片测试系统为其定制测试方案，从仪器选型到软件开发，实现电源管理芯片整体自动化

发表于 12-25 16:42 •527次阅读