混合信号集成电路测试方法-德赢Vwin官网网

混合信号集成电路是指包括数宇模块和vwin 模块的集成电路。将数字信号转换为模拟信号的电路称为数模转换器（D/A 或 DAC)，将模拟信号转换为数字信号的电路称为模数转换器（A/D或 ADC)"。图所示的是 ADC/DAC 的工作原理。目前，已经商用化的 ADC/DAC 速率达到数十 Cbit/ s，位数达到 32bit。

模数较换的作用是将时问连续、幅值也连续的模拟量钱换为时间离散、幅值也高散的数字信号，数模转换的作用则刚好相反。采样是将连线（即模拟）信号转变为离散（即数宇）信号的处理过程；反之，重构是将离散信号转变为连续信号的处理过程。采样和重构在混合信号集成电路测试中均得到了广泛的应用。理论上，必须按照采样定理进行采样，即采样频率应大于2倍的信号频率；但在实际测试中，有时也会用到过采样(Over Sampling）和欠采样(Under Sampling)。基于 DSP 的测试涉及两种采样类型，即相干采样和非相干釆样。相干采样要求满足F3/Ft=N/M，其中F3.为采样频率，F1为信号频率，N为采样点数，M 为采样周期数，且M 与N互为素数，这样可避免重复采样，提高效率。针对周期信号的不相千采样容易引起频谱泄露。

混合信号集成电路的测试包括直流参数测试和交流参数测试，如功耗、漏电、电源抑制比、建立时间等；而针对其传输特性，则主要测试静态参数与动态参数。图所示为 ADC 测试原理图。

测试时，由测试系统提供电源、时钟、模拟信号及数宇控制信号给被测电路。静态参数测试通常为全码线性测试，通过输人一个满量程的信号频率较低的三角波，采样得到实际输出的信号，通过实测传输特性与理想传输特性的比较来确定其静态参数，包括满量程范围 (Full Scale Range, FSR)、最低有效量值（Least Significant Bit, LSB)、差分非线性 ( Diferential Non-linearity, DNL)、积分非线性 (Integral Non-lineariy, INL)、失调误差 (Otfset Error)、增益误差(Gain Brror)、失码（ Missing Code）等。静态参数测试也可以通过输人正弦波采用直方图方法来进行测试。

在进行动态参数测试时，通过测试系统的波形发生器生成一定频率的测试波形（通常为正弦波），该测试波形的准确度必须远高于被测电路的准确度；将测试波形输人被测电路后，采样得到输出的时域信号；通过快速傅里叶变换(Fast Fourier Transform， FFT）将采样的时域信号变换为频域信号进行处理，•析得到混合信号集成电路的动态参数。动态参数包括信噪比 ( Signal Noise Ratio,SNR)、总谐波失真 (Total Harmonie Distorion， THD）、有效位数（EffeetNumber of Bits, ENOB）、无杂散动态范围 ( Spurious Free Dynamic Range,SFDR)、噪声与谐波总失真 (Signal to Noise and Distortion. SINAD)、互调失真(Intermodulation Distortion， IMD）等。在理想的转换器中，SINAD 和 SNR 是相同的。如果 SNR 是转换器所能达到的理想状态，SINAD 是反映转换器实际性能参数的指标，则 SINAD 越接近 SNR，表示其性能越好。ENOB 可以在信噪比基础上计算得出，即

ENOB= ( SINAD-1.76）/6.02

测试混合信号集成电路时，同样需要考虑可测性设计，以及设计与测试的链按，提供其测试所需的软硬件环境。混合信号集成电路测试系统除了具备数字集成电路测试系统的能力，还应具备产生高准确度任意波形的能力，捕捉和处理数字信号及模拟信号的能力，以及数宇模块与模拟模块同步的能力。

针对现阶段不断涌现出的高速、高精度 ADC/DAC，如果测试用的自动测试系统无法提供满足其要求的高精度时钟、信号源等，可采用高质量的分立仪器，或者进行回环(Loopback）测试；针对测试负載板（Load Board)，不仅要在设计上保证电源、地的干净，还要格外注意时钟及高速/高精度信号等关键信号的布线问题，并对信号进行充分的滤波处理。目前，新的标准 IEEE 边界扫描方法己经完全适用于混合信号测试，如果将来能实现混合信号集成电路的结构测试，将大大降低其测试难度与测试成本。

审核编辑：汤梓红

声明：本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人，不代表德赢Vwin官网网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用，如有内容侵权或者其他违规问题，请联系本站处理。举报投诉

集成电路

集成电路

+关注

关注
5387

文章
11530

浏览量
361611
混合信号

混合信号

+关注

关注
0

文章
472

浏览量
64949
adc

adc

+关注

关注
98

文章
6495

浏览量
544446
dac

dac

+关注

关注
43

文章
2291

浏览量
190970
数模转换器

数模转换器

+关注

关注
14

文章
1011

浏览量
83166

原文标题：混合信号集成电路测试，混合信號積體電路測試，Mixed Signal IC Test

文章出处：【微信号：Semi Connect，微信公众号：Semi Connect】欢迎添加关注！文章转载请注明出处。

混合集成电路的EMC设计

混合集成电路(Hybrid Integrated Circuit)是由半导体集成工艺与厚(薄)膜工艺结合而制成的集成电路。混合集成电路是在基片上用成膜

发表于 11-04 17:44 •2338次阅读

集成电路测试仪有什么类别？

随着集成电路的逐渐开发，集成电路测试仪从最开始的小规模集成电路逐渐发展到中规模、大规模甚至超大规模集成电路。

发表于 08-21 07:25

集成电路可测性设计方法

随着半导体集成电路产业的迅猛发展，设计方法、制造方法和测试方法已经成为集成电路发展过程中不可分割

发表于 07-26 06:54

集成电路电磁骚扰测试方法

集成电路电磁骚扰测试方法:摘要：本文分析了高频数字集成电路产生电磁发射的原因及其电磁发射的测量原理，简要说明了集成电路电磁骚扰的几种

发表于 10-07 23:01 •33次下载

VXI数模混合集成电路测试系统

《VXI 数模混合集成电路测试系统》的开发，对于集成电路设计验证、集成电路测试都有着极其重要的意义。VXI 总线

发表于 12-19 15:23 •24次下载

基于虚拟仪器技术的混合集成电路测试系统的设计与实现

基于虚拟仪器技术的混合集成电路测试系统的设计与实现设计了一种基于虚拟仪器技术的混合集成电路的性能参数自动测试系统。简要介绍了测控

发表于 10-13 18:57 •1488次阅读

基于虚拟仪器技术的<b class='flag-5'>混合集成电路</b><b class='flag-5'>测试</b>系统的设计与实现

利用ADMS平台加速混合信号集成电路设计

利用ADMS平台加速混合信号集成电路设计越来越多的设计正向混合信号发展，IBS公司预测显示，到2006年所有

发表于 12-26 14:39 •934次阅读

混合集成电路,混合集成电路是什么意思

混合集成电路,混合集成电路是什么意思由半导体集成工艺与薄（厚）膜工艺结合而制成的集成电路。混合集成电路是在基片上用成膜

发表于 03-20 16:19 •4193次阅读

混合集成电路,什么是混合集成电路

混合集成电路,什么是混合集成电路 由半导体集成工艺与薄（厚）膜工艺结合而制成的集成电路。混合集成电路是在基片上用成膜

发表于 04-02 17:25 •1046次阅读

集成电路测试技术与应用

通过对IMS 公司生产的集成电路测试系统ATS 的描述，讨论了集成电路(IC)的测试技术及其在ATS 上的应用方法，并以大规模

发表于 09-01 17:24 •0次下载

关于混合信号测试系统的那些事

当把模拟电路和数字电路集成到同一颗电路芯片里，混合信号集成电

发表于 06-07 12:04 •542次阅读

基于ATE的集成电路测试原理和方法综述

基于ATE的集成电路测试原理和方法综述

发表于 06-17 09:34 •124次下载

混合信号集成电路分析与设计

集成电路的分类方法很多，可以按照按电路属性、功能分类，集成电路把模拟和数字电路集成在一个单芯片

发表于 10-01 09:05 •2441次阅读

高速信号集成电路测试方法

随着集成电路技术的发展，高速信号的设计技术指标不断更新，系统中的数据传输速率已经提高到数十 Gbit/s 乃至数百 Gbit/s，这就给测试系统、测试硬件设计、

发表于 06-02 13:43 •1817次阅读

集成电路测试方法与工具

集成电路的测试是确保其质量和性能的重要环节。以下是关于集成电路测试方法与工具的介绍：一、集成电路

发表于 11-19 10:09 •344次阅读

搜索历史

混合信号集成电路测试方法

评论