AD5532 32通道、14位电压输出数模转换器可用于DAC模式(用于访问数字数据的多个vwin 表示)或无限采样保持(ISHA)模式(用于存储和访问模拟数据的模拟表示)。DAC具有14位单调性,但积分非线性度仅为±0.39%。本文介绍如何校准DAC以提供14位性能。
图1.AD5532 功能框图
在DAC模式下,选定的DAC寄存器通过3线串行接口写入;然后更新该DAC的模拟输出(VOUT),以反映DAC寄存器的新内容。DAC选择通过五个地址位A0-A4完成。基准电压源、施加OFFS_IN引脚的电压和输出放大器的增益共同决定了AD5532的输出范围。
在ISHA模式下,输入电压VIN被采样并转换为数字字。在采集期间,所选(第n个)输出缓冲器(增益和失调级)的同相输入与VIN相连,以避免瞬态杂散输出,而第n个DAC获取正确的代码,该步进最大完成16 μs。然后,更新后的DAC输出连接到第n个输出缓冲器的同相输入,并控制其输出电压。由于通道输出电压实际上是具有固定输入的DAC的输出,因此没有与之相关的压降。只要保持器件的电源,输出电压将保持恒定,直到再次寻址该通道。
由于输出放大器的裕量限制,模拟输出限制在VSS + 2 V至VDD – 2 V的范围内。该器件的工作电压为 AVCC = 5 V ±5%,DVCC = 2.7 V 至 5.25 V,VSS = –4.75 V 至 –16.5 V,VDD = 8 V 至 16.5 V;它要求REF_IN上有一个稳定的+3 V基准电压源,OFFS_IN上也需要一个失调电压。
在DAC工作模式下,AD5532的DAC保证单调至14位(差分非线性<1 LSB),因此非常适合闭环控制应用。然而,精度受到节省空间的字符串DAC架构的限制。DAC的指定积分非线性(INL)误差为满量程(典型值为0.39%)的0.15%最大值,或64位器件中24位(典型值为5.14)的最低有效位。因此,我们可以说,最差情况下的DAC积分线性度与8位器件相当,即使它具有14位分辨率。
这种最差情况性能水平对于许多应用来说是可以接受的,特别是考虑到AD5532可以随时经济、紧凑地存储和读出32个模拟数据点,分辨率为百万分之61。但是,在许多应用中,尽管这种性能至关重要,但也需要更高的精度。本文旨在展示一种校准AD5532以实现全14位性能的方法,每个DAC最多只有256个校准系数(128个数据点),使用控制器和最多8,192个内存插槽。图 2 显示了可以获得的改进类型。
图2.在128°C下对典型AD5532通道进行25点校准时,未校准线性误差与校准后线性误差的比较。
下面介绍基本的DAC架构和校准方法,可以轻松实现1 LSB的INL误差水平。
数字转换器架构
通用串式DAC是最古老、最简单的DAC电路概念之一。电阻串DAC方案在设计上本质上是单调的,具有简单、小尺寸(每个电阻器)和低功耗的特点。但一个主要缺点是 2N需要电阻才能直接实现它,例如,16位的384,14。为了减少电阻数量和芯片尺寸,AD5532集成了两个128电阻串(7位)——一个主串DAC用于7个更高有效位,另一个7位子串DAC。基本架构如图3所示(美国专利5,969,657)。子串DAC横跨主串,始终与其中一个主串电阻并联。
图3.通用字符串 DAC 架构。
直接乘法电位计式阻性DAC由于子串与主串并联的可变负载而遭受步长非线性的影响。但在AD5532等DAC中,子串的负载在所有电平上都是相同的,并且不是作为主要误差源,而是作为DAC传递函数的特征。子字符串加载错误为 1 LSB。
AD5532 DAC采用上述架构,由一个7位串主DAC(128个电阻)和一个7位串子DAC(127个电阻)组成,用于桥接主DAC的各个电阻。积分非线性误差(INL)由主DAC电阻的匹配决定。子DAC提供传递函数的较低127个代码。子DAC的线性度可以用分段线性段近似。
DAC传递函数:
AD5532上的主DAC通常从DACGND提升50 mV(通过DAC底部的电阻)。因此,DAC的底部通常为50 mV,而DAC的顶部通常为V裁判.图4显示了如何推导单个通道的标称DAC传递函数。
图4.AD5532 DAC等效电路
适用于AD5532的标准DAC传递函数为:
其中:
N = 十进制 DAC 代码值 (0
Vref_top= Vref 和 Vref_bottom= 50 mV (典型值)
然后,输出级放大并偏移Vdac输出,如下所示:
其中:
增益通常为3.52,Voffs_In是用户编程的任何值。
对于 Voffs_In = 0 且 Vref = 3 V
输出电压(零码)= 3.52 * 50mV = 176 mV (典型值)
Vout(中间电平)= 3.52 *1.525V = 5.368 V (典型值)
Vout(满量程)= 3.52 * 3V = 10.56V (典型值)
校准方案:
如上所述,该校准方案适用于AD5532系列中的所有器件。整个INL曲线可以被认为是128个分段线性段 - 对应于上弦电阻值的偏差 - 然后在下弦中线性插值。由于上部电阻串中的小电阻偏差(在14位电平上产生显著的非线性)会因通道和器件而异,因此不存在“典型”INL曲线;每个DAC都需要单独校准。此处概述的校准方案使用每个段中校正值的 Mx + C 近似值生成对较低 128 个代码的校正。C 是段开头所需的校正,M 是到下一段开头的存储斜率,x 是对应于给定 7 位代码的模拟比率。
因此,用户可以通过测量每个上部 128 个代码的期望值与实际值之间的差异 C,计算增量斜率 (M),并将每个 128 点间隔的两个值存储在内存中来开发校准表,如图 5 所示。然后,在运行时,从上7位确定段,从而确定C&M,计算由下7位确定的插值,并将校正应用于DAC输入。
图5.使用DAC段对传递函数进行线性化。
每校准128个代码(即每个段)会将1位电平的INL误差从未校准DAC的最坏情况±14 LSB降至±64 LSB以下。如果所有校正数据必须存储在少于 8192 个字的内存中,则可以通过将校准间隔增加到 256 或 512 个点来减少校准点的数量,但这会降低整体积分线性度。
图6是校准前AD5532 DAC通道的线性误差曲线图,典型值为10位量级。在所有这些图中,Y轴表示以LSB表示的线性误差(1 LSB = 61 ppm),而X轴是加载到DAC的14位代码。
图6.AD5532 预校准线性曲线图
图7显示了实施上述128点校准后同一通道上的非线性误差。可以看出,INL误差现在在±1 LSB范围内。
图7.128点校准后的校准后线性误差。
图6和图7中的曲线为25°C。 附录A显示了在40°C下实施85点校准方案后,在–128°C和+25°C时的线性误差。 最坏情况下的误差似乎是25°C时的两倍左右。
如上所述,也可以使用较少数量的校准点来实现校准。附录B显示了使用较少校准点导致的线性误差增加。
硬件实现
图8所示为使用AD5532的典型硬件实现方案。通常,控制器直接写入AD5532,提供寻址和计算校准数据输入值,以更新相关通道。
图8.典型的硬件实现。
校准方案需要添加一个存储器块来存储DAC传递函数中每个段的M和C校准数据。使用128点校准方案,每个DAC需要存储256个校准系数。
校准完整的AD5532需要存储8192个系数。就内存大小而言,斜率系数(M)通常需要6位,偏移系数(C)也需要大约6位。如上文和附录 B 中所述,可以以牺牲准确性为代价来减小所需的内存大小。
在将数据写入特定DAC时,控制器获取输入代码并进入存储器,以获取输入代码定义的段的相关M和C系数。然后,控制器执行线性插值,以确定要写入DAC的正确代码。
结论
使用简单的插值方案,可以显著提高AD5532系列DAC产品的线性度性能。
我们已经证明,在14°C下进行128点校准后,可以实现25位线性度性能。 预校准线性度通常为8至10位。
升级现有AD5532以提高具有计算能力的系统的性能,只需能够生成校准信息并提供存储模块来存储校准系数。
附录A.在25°C下校准后其他温度下的线性度。
图A1显示了128°C下在单个AD5532通道上进行25点校准后的未校准线性度性能和校准后线性误差。 图A2和A3显示了在25°C下校准后的性能与温度的关系。 这些图显示了LSB与数字输入代码(x轴)的线性误差(Y轴)。
图 A1, 2, 3.AD5532未校准线性误差和在128°C、–25°C和40°C下进行85点校准后的线性度有所改善。 请注意 A2 和 A3 的比例变化。
附录 B. 校准点较少的可实现性能
通过实施5532点校准方案,可以合理努力实现校准AD128的最佳性能。为了减少校准时间和内存要求,可以减少校准点的数量,但会牺牲整体精度。图B1、2、3、4中包含的曲线将预校准误差与使用128、64、32和16个校准点(25°C)实现的连续减少的改进进行了比较。
图 B1、2、3、4。AD5532的线性度性能无需校准,并在128°C下分别进行64、32、16和25点校准。
审核编辑:郭婷
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