光纤链路有损耗，应变温度还能测量吗？
当光纤链路存在光信号损耗时会影响光纤传感测试，在一些光纤传感测试工况中，光纤链路中不可避免存在宏弯损耗，比如在复合材料中嵌入光纤，光纤以S形布设成面阵；土木结构测试中，在钢筋笼里布设光纤有直角转弯。当光链路中存在损耗时，能否继续测试？测试出的效果是否会受影响？昊衡科技针对这些问题结合实验进行分析，给出了测试指导建议。
一、如何确认光纤链路有损耗以及损耗大小
使用OFDR光频域反射仪测量应变和温度，如何判断光纤链路有损耗以及损耗大小？以OSI-S为例，试验装置如下：一个可调衰减器一端连接OSI设备DUT接口，另一端连接一个光纤拉伸梁装置。
图1. 试验装置图
在OSI系统的传感段选取界面，测量以上光纤链路，获得距离（横坐标）-散射强度（纵坐标）曲线。零点位置对应设备DUT口，7.5m以后是无效信号，为设备底噪，约-130dB；7.5m以前是光纤链路的散射信号，衰减器约在1.5m附近，2.5m~7.5m为光纤传感段。
距离-散射强度曲线中，台阶可反映光信号的损耗，如衰减器两端台阶差值代表衰减器对光路带来的损耗。
图2. 光纤链路的距离-散射强度曲线
二、光纤链路有损耗能否继续测量？
光纤链路中有损耗，能否继续测量，需根据实际情况来评估，大致有以下三种情况。
1. 光纤链路总损耗接近设备底噪，不能进行传感测量。通常此时的光纤链路已断开，原先的传感段进入底噪，因为探测不到有效信号，测量结果混乱、无规律可循。2. 光纤链路有少量损耗，光纤传感段散射信号高于设备底噪8dB以上，即信噪比大于8dB，应变测量不受影响，而且±12000με的应变范围也不会有损失，可以在此基础上继续加载实验。3. 光纤链路有较大损耗，信噪比低于8dB，测试可以继续，但是随着光纤链路的损耗增大，系统可准确测量的应变范围会降低。以光纤拉伸梁测试应变为例，对比不同信噪比条件下仪器能准确测量应变的最大范围，得出如图3所示的信噪比-应变范围曲线。
图3. 信噪比-应变范围曲线
对于不同待测结构和测试方案，由光纤链路损耗而导致的应变范围损失，情况有所不同。因此，我们建议当链路有损耗且信噪比低于8dB时，先查找损耗原因后再重新进行测试。
三、光纤链路产生损耗的主要原因
1. 使用人员操作不当，如设备DUT接口污染或光纤跳线没有正确接入DUT接口，熔接点效果不佳，光纤跳线法兰连接有误等。
2. 光纤链路某位置有小半径、小角度弯曲，可通过排除故障、减小宏弯或更换光纤传感器来降低损耗。另外，不同光纤类型其弯曲半径和损耗关系有较大差异。下表汇总了三种常见光纤应变传感器在波长1550nm时，弯曲半径和损耗的关系，以供参考。
3.光纤传感器在布设时，传感器、胶水以及两者相互作用有可能带来额外损耗，而且随着布设的光纤长度增加，链路累积的总损耗会增大。比如PI涂层光纤用502胶水布设20m以上会有损耗，可以通过换用AB胶，在保证应变传递效果的同时，改善光纤布设引起的损耗。
使用OFDR光频域反射仪测量应变和温度时，若光纤链路有损耗，能否继续测量以及如何改善测试结果，昊衡科技建议如下：
1. 测试前先判断光纤链路损耗是否在合理范围内。若链路有少量损耗且信噪比大于8dB，OSI传感测量不受影响；若信噪比低于8dB，此时系统可测的应变范围有所下降，建议查找原因、排除故障、降低损耗后再测试。
2. 若测试方案中光纤布设的路径存在小角度弯曲，如90°转弯，建议布设时尽可能使光纤弯曲半径大一些，降低损耗，或者选用耐弯曲光纤来支持更小的弯曲半径。
3. 光纤传感器布设时，传感器、胶水以及两者相互作用有可能带来额外损耗，需结合实测的距离-散射强度曲线，调整方案。
OSI-S是一款超高精度分布式光纤传感系统。其原理基于光频域反射技术（OFDR），用于温度和应变分布式测量，空间分辨率高达1mm，温度和应变测量精度最高可达±0.1℃和±1.0με。该系统采用常规单模光纤作传感器，兼容高密度弱反射光纤光栅阵列，在一根光纤上可同时测量成千上万传感点，广泛应用于短距离、高分辨、高精度温度和应变测量领域。
| 基础 参数 | 传感长度 | 100 | m |
| 空间分辨率 | 1~10 | mm | |
| 应变 | 测量精度 | ±1.0 | με |
| 测量范围 | ±12000 | με | |
| 温度 | 测量精度 | ±0.1 | ℃ |
| 测量范围 | -200~1200 | ℃ |
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