日本日置IM7583阻抗分析仪
日本日置IM7583阻抗分析仪使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量,日本日置IM7583阻抗分析仪高速、高稳定性测量,提高生产量!测量时间:*快0.5ms
日本日置IM7583阻抗分析仪
日本日置IM7583阻抗分析仪高速、高稳定性测量,提高生产量!测量时间:*快0.5ms
测量频率:1MHz~600MHz
测量时间:*快0.5ms(vwin
测量时间)
基本精度:±0.65% rdg.
紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小
丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
日本日置IM7583阻抗分析仪主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪专用的测试治具。
日本日置IM7583阻抗分析仪
日本日置阻抗分析仪IM7583
阻抗分析仪IM7580s:等效电路分析功能
能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。 而且,可以通过模拟功能,使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。 此外,使用比较器功能,还能够确定测量结果是否在判定区域内。
阻抗分析仪IM7580系列:使用SMD治具IM9201进行LCR测量
IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz?9?13GHz。
和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用,能够简单准确的测量样品。
阻抗分析仪IM7580系列:区域判定功能
分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 “区域判定功能”是设置上限值和下限值的范围,并以IN/NG来显示判定结果。
阻抗分析仪IM7580系列:峰值判定功能
分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值来设置范围,并以IN/NG来显示测量的峰值是否在判定区域内。
阻抗分析仪IM7580系列:SPOT判定功能
分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“SPOT判定功能”选择任意的扫描点和参数,zui多进行16点的判定。
阻抗分析仪IM7580系列:比较器功能
使用比较器功能,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
适用于判定样品是否合格的功能。
阻抗分析仪IM7580系列:接触检查功能
使用接触检查功能,能够检查样品和测量端口的接触状态,并确认接触不良情况和连接状态。
阻抗分析仪IM7580系列:测试头的连接方法
测试头的连接线连接阻抗分析仪。
审核编辑 黄宇
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发布于 :2024年02月01日 17:47:36
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