1. 工作原理
扫描电子显微镜以电子束为光源,以光栅式扫描方式将精细聚焦的电子束照射到样品上。二次电子、背散射电子等。电子与样品之间相互作用所产生的电子然后被收集和处理,以获得显微形貌的放大图像
普通热发射扫描电子显微镜相比,场发射扫描电子显微镜具有更高的亮度和更小的电子束直径,即更小的束斑尺寸和更高的分辨率。是纳米尺度微区形貌分析的首选。
2. 文书组成
场发射扫描电子显微镜由场发射电子枪、电子束推进器、聚光透镜(电磁透镜)、孔径、物镜(电磁透镜)、扫描线圈、极片和探测器组成。
1. 场发射电子枪
场发射电子枪分为冷场发射电子枪和热场发射电子枪。冷场发射电子枪的电子束直径最小,亮度最高,分辨率最高,但对真空度要求极高(10—10托),稳定性差。它需要一个闪光(短时间加热到2500K的尖端)恢复,由于稳定性问题,一些扩展的分析功能无法实现。热场发射电子枪的最大特点是束流大、稳定性强,但分辨率差(电子能量色散大)
为了提高分辨率和保证电子束的稳定性,采用肖特基场发射电子源在钨单晶上镀上一层氧化锆涂层。氧化锆将纯钨的功函数从4.5eV降低到4.5eV.2.8eV,并且高电场的应用缩小并降低势垒,使得电子很容易用热能跳过势垒(而不是隧道效应)并从针尖表面逃逸。所需的真空度约为10—8~10—9托
肖特基场致发射电流稳定性好,总电流大,分辨率大大提高(比冷场致发射稍差)。它的功能和发展远高于冷场发射。热场发射目前已广泛应用于商业应用中。基本上就是肖特基场发射。
2.电容器
等势线与磁力线正交,通过透镜间隙向两端延伸,形成会聚场,相当于一个“凸透镜”。电子束通过中间时,受到强磁场的偏转和聚焦,使大直径的电子束通过聚光镜后会聚成小直径的束斑。
3. 孔径
按孔径大小分为大孔径光阑和小孔径光阑。通过大口径光阑的束流较大,可以增强X射线信号。通过小孔径光阑的束流较小,可以减少电荷量,提高成像质量。
4. 物镜
物镜位于镜筒底部,用于将电子束聚焦在样品上。通过聚焦旋钮调节目标电流,可以改变电子束的聚焦。
德国蔡司公司研制出一种复合磁/静电物镜,保证物镜下没有磁场泄漏。能够获得高纯度的二次电子信号,这有助于提高分辨率。一方面,磁性材料可以在近距离和高分辨率下观察到。另一方面,也有可能在大写字段中实现无失真。
5.探测器
电子束轰击样品表面,相互作用产生二次电子、背散射电子等。电子的空间分辨率取决于加速度电压和样品密度。这些电子信号由不同的探测器采集并处理成图像。下面介绍几种常见的电子探测器:
1) 透镜内二次电子探测器(透镜内SE)
透镜内检测器位于物镜上方。通过控制物镜中的电极板电压来选择进入探测器的电子信息。低角度下的电子信息越多,图像就越清晰。这些探头适用于高分辨率表面形貌成像,即分析样品细节。
2)Everhart-Thornley(ET)型二次电子探测器
ET二次电子探测器位于样品室内,由集电极栅、闪烁体、光导、光电倍增管和前置放大器组成。。收集栅收集的电子被加速,在闪烁体上形成光子。形成的光子通过光电倍增管和光管,转换成电信号,经放大器放大后输出。这种类型的探针适用于观察样品的形态对比度,具有很强的立体感。充电影响小。良好的Z对比度。细节很容易受到信号扩散和高倍下清晰度不足的影响
3)后向散射检测器
背散射探测器是一种电子探测器,它可以气动地缩回。即使在低电压下也能高效率地识别材料特性。它有五个独立的二极管部分,一个内部后方中心环,和四个外部象限。内部段(S1)主要反映材料对比,而外部四个象限(S2至S5)更多地用于反映形式对比。。BSD探测器受电荷的影响较小,通常比二次电子图像具有较低的分辨率。
审核编辑 黄宇
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