测试(如DRAM和NAND)等应用进行晶圆温度针测时,需要耗散大量的功率以避免温度过
高。全新ERS高功率温度卡盘系统可在-40°C的温度条件下,在300毫米的卡盘上耗散高达2.5
kW的功率,这让测试单个芯粒以及全晶圆接触测试成为可能。作为附加选项,该系统还具备
业界最佳的温度均匀性,在-40°C时均匀性可稳定在 ±0.2°C,在-20°C至+85°C之间甚至可达
系统中使用的温度卡盘由多个部分组成,还可通过ERS专利PowerSense软件进行独立控制。
当向晶圆施加功率时,软件会立即检测到热量的增加并迅速做出反应,冷却受影响的区域。为
了实现迅速散热并达到温度高均匀性,此次推出的新型温度卡盘系统配备了一个液体而非空气
的冷却机。
"对于高功率温度卡盘系统,我们有意使用工程液体,因为它们能够满足终端应用的功率耗散
要求。至于其它主流晶圆测试,我们仍倾向于使用空气作为冷却剂,"ERS electronic首席技术
官Klemens Rei�nger说:"我们的解决方案之所以与众不同,不仅是因为它在低温条件下具备的
卓越散热性能,还因为它可以达到无与伦比的温度均匀性:±0. 1°C。我们在继续开发该系统的
其他功能, 这些功能将进一步改善耗散性能和对分区的监控,从而全面实现动态控制。
"ERS的高功率温度卡盘系统解决了高端处理器、DRAM和NAND器件晶圆测试过程中出现的问
我们预计中国客户将会对该系统非常感兴趣,这也是为什么我们已经在与ERS共享的、位于上
海的实验室里安装了该系统,以便演示和供客户评估的原因。
高功率温度卡盘系统现已接受订购。
关于ERS:
ERS electronic GmbH 50多年来一直致力于为半导体行业提供创新的温度测试决方案。凭借其用
于晶圆针测的快速且精确的空气冷却温度卡盘系统以及用于FOWLP/PLP的热拆键合和翘曲调整
设备,享誉业界。
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发表于 10-11 13:58
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