硅片生产是光伏产业链上游的核心环节,为后续制造更高发电效率的光伏组件提供有力保障。随着市场对硅片品质的要求不断提高,硅片生产过程中的检测维度需更加精细,涵盖外观缺陷、尺寸、数量、平整度、距离和定位等高精度检测。
特别在生产工艺后段,品质管控的标准达到了新的高度。硅片在经历切割、清洗、烘干等工序后,将进行缺陷检测,然后直接包装出货。如何在高速产线上可靠识别、稳定检出缺陷,对 AI 的算法能力提出巨大挑战。
阿丘科技拥有丰富的落地经验和持续创新的技术积累,针对多个行业细分场景推出“最优系统”定制开发和 AI 解决方案,积极推进行业自动化,为客户提供更优质的选择。
AIDI专业级工业AI视觉算法平台软件内置八大 AI 功能,可用于解决复杂缺陷的定位、检测、分类及字符识别等问题。AIDI能够集成到多行业不同的产线设备中,持续开拓视觉检测应用场景,满足市场需求。经测试结果显示,在同等检测精细度情况下,AIDI 算法运行速度行业领先。
基于AIDI算法平台,阿丘科技推出多款配套工具,加速 AI 的落地应用,大幅提高模型训练的效率和准确性:
AI缺陷生成工具AIDG
生成多样缺陷参与训练
模型检测效果更加稳定
质检云系列AQCloud
使用云端资源训练,降低本地训练成本
多人协同数据标注,提高模型训练效率
增量训练
用少量数据调整模型
快速响应现场检测标准变动需求
硅片分选 AI 解决方案
/ SOLUTION
阿丘科技 AIDI 算法平台,以分割模块为核心,对图像进行像素级检测,精准识别硅片所有缺陷的位置、尺寸和类别。不仅实现硅片检测产线的自动化升级,还为客户实现品质管控闭环提供有力保障,确保生产流程的平稳进行。
- 指标要求高:硅片产线速度快、产量大、良率高,客户对过检率的要求是万分之几级别。
- 人工成本高:要求减少对人工的依赖,检测精度、速度需全面超越人工能力。
- 规格种类多:包括边长166 -230mm,全片和半片等多规格硅片。
- 行业难题:色差片时常引发批量性误判。
方案效
实现极限制造:检测节拍优于生产节拍,单通道最高18000uph,双通道最高34000uph(每小时产出),明显缺陷漏检率0%,过检率小于0.05%。
提高质检效率:可检出最小缺陷直径0.1mm的缺陷,与人眼分辨极限接近。
兼容全尺寸产品:为客户设计“尺寸自适应算法”,有效兼容不同规格的硅片,完成检测任务。
突破行业级难题:使用 AI 算法精准识别并屏蔽“色差区域”,在缺陷判定时即可排除色差干扰。
阿丘科技的深度参与和快速响应为客户提供了强有力的支持,硅片分选 AI 解决方案在精细度、速度、指标和兼容性等方面表现出色,助力实现低成本、高质量的目标。
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