Pickering发布新一代低漏电流开关模块，赋能半导体精密测试
英国知名的电子测试与验证解决方案提供商Pickering公司，近日宣布推出一款专为半导体行业设计的新型低漏电流开关保护模块。该模块聚焦于提升WAT（晶圆验收测试）等关键测试环节中的电流驱动保护测量精度，以满足半导体行业对极致低漏电流性能的迫切需求。
新款开关保护模块采用创新的开关随动保护层技术，有效隔绝外部干扰，确保测试环境的纯净与稳定。该设计不仅支持PXI、PXIe及LXI等多种主流测试平台，还实现了隔离电阻的飞跃性提升，高达10¹³Ω，为半导体参数测试树立了新的性能标杆。
Pickering公司此次推出的低漏电流开关模块，是其在模块化信号切换与仿真领域深厚技术积累的又一力作。该产品的问世，将极大助力半导体制造商在晶圆验收测试阶段实现更精准、更可靠的测量结果，推动半导体产品质量的全面提升。
随着半导体技术的飞速发展，对测试设备的要求也日益严苛。Pickering公司凭借其卓越的创新能力和对市场需求的精准洞察，不断推出符合行业发展趋势的高性能测试解决方案，为半导体产业的持续进步贡献力量。
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