立仪科技光谱共焦应用之金属隔膜静态重复性测量-德赢Vwin官网网

立仪科技光谱共焦应用之金属隔膜静态重复性测量

01｜检测需求：金属隔膜重复性测量

立仪科技光谱共焦应用之金属隔膜静态重复性测量

02｜检测方式

为了保证精度，首先先用千分尺进行测量，得出相应的厚度数据，在选择合适的侧头，根据结果，我们现在立仪科技H4UO控制器搭配D27A20侧头

03｜千分尺测量结果

经过测量可以厚度是84微米

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04｜光谱共焦测量结果

经过测量可以厚度83.417μm

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05｜60秒内重复精度展示（部分）

60秒内重复精度展示（部分）

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06｜光谱共焦侧头

D27A20侧头相关参数

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审核编辑黄宇

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