无狭缝平场 XUV 光谱仪和光束分析仪
特点：
● 光源直接成像
● 1-200nm 平场光谱仪
● 无狭缝设计提供高效率: 没有对对准敏感的入射狭缝
● ~20倍于常规光谱仪的光线收集能力，并成比例的提高信噪比
高精度/高效率
● 光栅绝对位置监测确保光栅准直
● 高效率像差校正平场光栅
● 集成波束分析仪
● 双杂光滤波片
● 便捷的软件控制
可定制
● 每套光谱仪完美匹配客户特殊应用
● 实验室设备对接接口
● 特定的设备尺寸
● 用户自定义过滤器安装件
信号增强样本测试结果，在相同的光源强度下，maxLIGHT (实线)的分辨率明显高于标准光谱仪(虚线)。在相同的分辨率下，标准光谱仪需要加载细小的狭缝，这样会明显降低信号强度。而无狭缝技术能同时提高信号分辨率和强度。(data courtesy of Prof. C. Hauri, Paul Scherrer Inst.)
maxLIGHT高分辨率样品测试结果，该高次谐波信号是由单个飞秒脉冲与固体目标作用后滤波得到的，而谐波产生过程中的内在子结构被XUV光谱仪清晰的记录下来。Plasma Phys. Control. Fusion 53 124021 (2011)
审核编辑 黄宇
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