近日,高性能ASIC设计服务领域的领先企业世芯电子(Alchip)宣布了一项重大技术突破——成功流片了一款2nm测试芯片。这一里程碑式的成就,使世芯电子成为首批成功采用革命性纳米片(或全能门GAA)晶体管架构的IC创新者之一。
据悉,这款2nm测试芯片集成了高速SRAM和先进的自动布局布线设计,以确保其具备卓越的性能表现。同时,该芯片还配备了硅性能监控器,能够为用户提供实时的性能洞察,从而进一步优化芯片的性能和稳定性。
此外,这款测试芯片还集成了世芯电子的Lite I/O技术,并支持共享和非共享电源域,使其在处理3DIC选项时更加灵活和高效。这些先进的技术特性,充分展示了世芯电子在高性能ASIC设计领域的深厚实力和创新能力。
预计明年第一季度,世芯电子将公布这款2nm测试芯片的具体测试结果。目前,世芯电子正在与客户积极合作,共同开发高性能的2nm ASIC产品,以满足市场对高性能计算、人工智能等领域的迫切需求。
此次成功流片2nm测试芯片,再次彰显了世芯电子在IC创新领域的领先地位。未来,世芯电子将继续致力于技术创新和产品研发,为行业带来更多惊喜和突破。
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