东芝推出用于半导体测试仪的高速光继电器-德赢Vwin官网网

东芝推出用于半导体测试仪的高速光继电器

来源：Silicon Semiconductor

小尺寸和快速切换为高端 ATE 带来了显著优势。

东芝电子欧洲公司发布了一款新型低压高速光继电器。TLP3450S 特别适用于半导体测试仪的引脚电子器件，可更精确地快速测量被测器件 (DUT) 。它也适用于探针卡、测量仪器和各种工业设备。

新款 TLP3450S 基于升级的内部配置，配备增强型红外 LED 与具有优化设计的光电二极管阵列相结合。因此，新器件的开启开关时间 (tON) 低于 80μs。与上一代产品 (TLP3450) 相比，这提高了 40%，这将大大提高 ATE 系统的整体吞吐量。

TLP3450S 具有较小的输出电容 (COFF)，仅为 0.6pF，这减少了关闭输出时的高频信号泄漏 - 这将降低噪声并提高多路复用结构的准确性。该器件还具有较低的导通电阻（RON） - 通常为 6.8Ω），可在输出处于导通状态时改善信号衰减。

TLP3450S 的输入输出隔离 (BVs) 额定值为 500Vrms，能够在 -40°C 至 +110°C 的环境温度范围内工作。它配置为 A 型接触器件，能够连续提供 160mA (ION) 电流。脉冲额定值为 480mA (IONP)。

复杂的 ATE 系统需要小型组件来提高安装密度。为实现此目的，TLP3450S 采用微型 S-VSON4T 封装，尺寸仅为 1.45mm × 2.0mm × 1.3mm，与传统产品相比，占用空间减少了 18%。

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