工业控制市场包括监控和控制复杂过程和简单过程两个方面。工业的普遍发展趋势,尤其是对更高的效率、更佳的鲁棒性、更高的通道密度、更快的监控和控制速度 的推动,进一步促进了半导体制造新技术的发展。本研讨会旨在全面介绍现场仪表(传感器/执行器)和控制室(vwin 输入/输出)模块系统要求,并演示具有 HART(可寻址远程传感器高速通道)连接能力的典型I/O模块配置。
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