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上海季丰电子

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季丰电子激光诱导击穿光谱元素分析仪介绍

为满足客户分析需求的多样性,季丰电子在张江实验室配备了激光诱导击穿光谱元素分析设备,采用355nm的....
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LCR数字电桥测试仪的工作原理和使用方法

季丰电子张江实验室为了满足大家的测试LCR的需求,增加一台E4980AL-LCR数字电桥测试仪,E4....
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季丰电子建立热仿真能力提升半导体测试成功率案例分享

随着5G通讯的普及、AI的兴起以及chiplet工艺的采用,待测芯片的功耗不断增大
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季丰电子荣膺“大零号湾”影响力TOP10企业榜单

10月30日,“5载耕耘 闵创未来——中国(上海)创业者公共实训基地南部科创中心分基地成果展示活动暨....
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季丰电子两处场所获得CNAS认可证书

随着季丰电子的日益壮大,公司规模也在不断地扩增,为了提高实验室能力、优化质量管理水平并提升客户满意度....
的头像上海季丰电子 发表于10-13 09:41 643次阅读

SEM/FIB双束系统截面加工:实现离子的成像、注入、刻蚀和沉积

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季丰电子新热场电子显微镜可帮助客户快速获取清晰的图像

季丰电子目前拥有蔡司GeminiSEM500扫描电镜SEM热场发射扫描电子显微镜,可为客户呈现任....
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季丰电子入选上海市服务型制造示范平台

9月20日,以“共享G60创新生态,服务型制造赋能产业高质量发展”为主题的“服务型制造万里行——走进....
的头像上海季丰电子 发表于09-22 09:51 706次阅读

季丰电子新引入精密芯片裂片设备SELA—MC10

SELA是通过刻痕和断裂的双重过程制备样品,获得高质量截面。
的头像上海季丰电子 发表于09-21 18:27 1270次阅读
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STEM的成像原理 STEM的图像衬度来源

扫描透射电子显微镜(Scanning Transmission Electron Microscop....
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如何计算芯片内部自研IP模块的FIT的数值

Q1 图中这个分层是哪里导致的? A1 die attach,银浆分层,最好有个reference对....
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工艺可靠性电迁移EM测试

电迁移是金属线在电流和温度作用下产生的金属迁移现象——运动中的电子和主体金属晶格之间相互交换动量,金....
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EDS面扫、线扫、点扫的应用

能谱仪(EDS)是一种快速分析样品微区内元素种类及含量的重要工具,通常与扫描电镜(SEM)、透射电镜....
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波峰焊焊点吹孔的分析及解决方案

在波峰焊生产过程中,吹孔是比较常见的不良现象,即从焊点表面肉眼可见较大的空洞,在IPC-A-610中....
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tem成像系统有哪几部分组成

TEM的成像原理涉及许多物理和光学概念,涵盖了电子束的产生、聚焦、样品相互作用以及图像形成等多个方面....
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透射电子显微镜的用途和特点

透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope, TEM)是一种用....
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随着硅材料在半导体和光电子领域的应用日益广泛,痕量金属元素对材料性能和质量的影响越来越大,高精度的硅....
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季丰电子面向客户提供完整的半导体工艺可靠性测试服务

季丰电子面向客户提供完整的半导体工艺可靠性测试、验证和咨询服务,可有效缩短制造工艺和器件开发的时间,....
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季丰2DX-ray分析能力可实现细微缺陷清晰展现

Dage Quadra7介绍 作为Dage Quadra 系列中前沿的产品,Dage Quadr....
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季丰电子FEI-Centrios线路修补设备为客户提供高效服务

FEI-Centrios线路修补设备可以更高效地根据客户需求,完成铝制程及铜制程芯片,市场大部铝制程....
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浅谈IGBT去硅凝胶方法及注意事项

如果要缩短溶解时间,可以预先用物理方式去除部分表面的硅胶,但需要有较好的控制,以免对键合引线或者芯片....
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季丰量产测试线设备——Wafer光学自动检测介绍

Wafer自动光学检测(AOI)设备适用于6寸&8寸&12寸 wafer的2D&3D缺陷检测、尺寸测....
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LabMaster新一代季丰实验室管理系统正式发布

2023年5月,LabMaster新一代季丰实验室管理系统正式发布。 LabMaster是季丰自研的....
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衢州季丰与TUV南德签约 帮助光伏产品制造商节约测试时间和成本

50万人注册观展、33个展馆、3000家企业参展、观众来自全球95个国家……5月24日-5月26日,....
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季丰电子硬件研发事业部有专门从事仿真业务的团队,负责硬件电路的电气完整性。
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季丰三代千路电压电流监控设备MonitorMaster正式发布

MonitorMaster是季丰研发的电压、电流、功率监控方案。整个方案包含控制板和监控电路两部分:....
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HF5000球差电镜功能介绍和亮点功能案例分析

季丰电子HITACHI HF5000功能丰富,借助超高的分辨率和独特的探头设计,可满足客户大多数极限....
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跌落测试试验条件能力介绍

季丰嘉善实验室包装跌落试验机 能力: 治具示意图(不仅限图示,更多治具开发中): 样品示....
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季丰嘉善车规芯片量产测试线能力介绍——三温CP、三温FT、Burn-in、三温SLT

芯片测试是每一颗芯片进入市场前的必经环节。和消费类芯片不同,汽车芯片对安全性、可靠性有着更严苛的标准....
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芯片在失效分析中的开封方法及注意事项

Decap:即开封,也称开盖,开帽,是指将完整封装的IC做局部腐蚀,使得IC可以暴露出来 ,同时保持....
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