STM32CUBEMX开发GD32F303(10)----双ADC轮询模式扫描多个通道

描述

概述

本章STM32CUBEMX配置STM32F103,并且在GD32F303中进行开发,同时通过GD32303C_START开发板内进行验证。需要GD样片的可以加Q_QUN申请:615061293。 本章主要配置,双ADC轮询模式扫描多个通道,通过串口进行打印。 查阅手册可以得知,PA9、PA10为串口0的输出和输入口。

GD32F103

ADC通道配置

ADC1 IN0(PA0) IN3(PA3) IN4(PA4)
ADC2 IN7(PA7) IN8(PB0) IN9(PB1)

生成例程

这里准备了GD32303C_START开发板进行验证。GD32F103

STM32CUBEMX配置

GD32F103勾选中断。GD32F103

ADC1配置。

GD32F103

  • ADCs_Common_Settings:
    • Mode:Independent mod 独立 ADC 模式,当使用一个 ADC 时是独立模式,使用两个 ADC 时是双模式,在双模式下还有很多细分模式可选,具体配置 ADC_CR1:DUALMOD 位。
  • ADC_Settings:
    • Data Alignment:
      • Right alignment 转换结果数据右对齐,一般我们选择右对齐模式。
      • Left alignment 转换结果数据左对齐。
    • Scan Conversion Mode:
      • Disabled 禁止扫描模式。如果是单通道 AD 转换使用 DISABLE。
      • Enabled 开启扫描模式。如果是多通道 AD 转换使用 ENABLE。
    • Continuous Conversion Mode:
      • Disabled 单次转换。转换一次后停止需要手动控制才重新启动转换。
      • Enabled 自动连续转换。
    • DiscontinuousConvMode:
      • Disabled 禁止间断模式。这个在需要考虑功耗问题的产品中很有必要,也就是在某个事件触发下,开启转换。
      • Enabled 开启间断模式。
  • ADC_Regular_ConversionMode:
    • Enable Regular Conversions 是否使能规则转换。
    • Number Of Conversion ADC转换通道数目,有几个写几个就行。
    • External Trigger Conversion Source 外部触发选择。这个有多个选择,一般采用软件触发方式。
  • Rank:
    • Channel ADC转换通道
    • Sampling Time 采样周期选择,采样周期越短,ADC 转换数据输出周期就越短但数据精度也越低,采样周期越长,ADC 转换数据输出周期就越长同时数据精度越高。
  • ADC_Injected_ConversionMode:
    • Enable Injected Conversions 是否使能注入转换。注入通道只有在规则通道存在时才会出现。
  • WatchDog:
    • Enable Analog WatchDog Mode 是否使能模拟看门狗中断。当被 ADC 转换的模拟电压低于低阈值或者高于高阈值时,就会产生中断。

ADC2配置。GD32F103生成独立的文件。GD32F103

keil配置

microlib 进行了高度优化以使代码变得很小。 它的功能比缺省 C 库少,并且根本不具备某些 ISO C 特性。 某些库函数的运行速度也比较慢,如果要使用printf(),必须开启。GD32F103

代码

在main.c中,添加头文件,若不添加会出现 identifier "FILE" is undefined报错。

/* USER CODE BEGIN Includes */#include"stdio.h"/* USER CODE END Includes */

函数声明和串口重定向:

/* USER CODE BEGIN PFP */intfputc(intch, FILE *f){HAL_UART_Transmit(&huart1 , (uint8_t*)&ch,1,0xFFFF);returnch; }/* USER CODE END PFP */

定义变量,存放采集到的数据。

/* USER CODE BEGIN 0 */uint8_ti;uint16_tadc1Buf[3];//ADC1数组uint16_tadc2Buf[3];//ADC2数组/* USER CODE END 0 */

ADC校准。

/* USER CODE BEGIN 2 */HAL_ADCEx_Calibration_Start(&hadc1);//ADC校准HAL_ADCEx_Calibration_Start(&hadc2);//ADC校准printf("ADC Demo! ");/* USER CODE END 2 */

采集数据。

/* USER CODE BEGIN WHILE */ while (1) { /* USER CODE END WHILE */ /* USER CODE BEGIN3*/ i=0; while(i<3) { HAL_ADC_Start(&hadc1);//启动ADC HAL_ADC_PollForConversion(&hadc1,0xffff);//表示等待转换完成,第二个参数表示超时时间,单位ms. //HAL_ADC_GetState(&hadc1)为换取ADC状态,HAL_ADC_STATE_REG_EOC表示转换完成标志位,转换数据可用。 if(HAL_IS_BIT_SET(HAL_ADC_GetState(&hadc1),HAL_ADC_STATE_REG_EOC))//就是判断转换完成标志位是否设置,HAL_ADC_STATE_REG_EOC表示转换完成标志位,转换数据可用 { //读取ADC转换数据,数据为12位。查看数据手册可知,寄存器为16位存储转换数据,数据右对齐,则转换的数据范围为0~2^12-1,即0~4095. adc1Buf[i]=HAL_ADC_GetValue(&hadc1); i++; } } printf(" adc1_IN0(PA0)=%4.0d,电压=%1.4f",adc1Buf[0],adc1Buf[0]*3.3f/4095);printf(" adc1_IN3(PA3)=%4.0d,电压=%1.4f",adc1Buf[1],adc1Buf[1]*3.3f/4095);printf(" adc1_IN4(PA4)=%4.0d,电压=%1.4f",adc1Buf[2],adc1Buf[2]*3.3f/4095); HAL_ADC_Stop(&hadc1); HAL_Delay(500); i=0;while(i<3) { HAL_ADC_Start(&hadc2);//启动ADC HAL_ADC_PollForConversion(&hadc2,0xffff);//表示等待转换完成,第二个参数表示超时时间,单位ms. //HAL_ADC_GetState(&hadc1)为换取ADC状态,HAL_ADC_STATE_REG_EOC表示转换完成标志位,转换数据可用。if(HAL_IS_BIT_SET(HAL_ADC_GetState(&hadc2),HAL_ADC_STATE_REG_EOC))//就是判断转换完成标志位是否设置,HAL_ADC_STATE_REG_EOC表示转换完成标志位,转换数据可用 {//读取ADC转换数据,数据为12位。查看数据手册可知,寄存器为16位存储转换数据,数据右对齐,则转换的数据范围为0~2^12-1,即0~4095. adc2Buf[i]=HAL_ADC_GetValue(&hadc2); i++; } }printf(" adc2_IN7(PA7)=%4.0d,电压=%1.4f",adc2Buf[0],adc2Buf[0]*3.3f/4095);printf(" adc2_IN8(PB0)=%4.0d,电压=%1.4f",adc2Buf[1],adc2Buf[1]*3.3f/4095);printf(" adc2_IN9(PB1)=%4.0d,电压=%1.4f",adc2Buf[2],adc2Buf[2]*3.3f/4095); HAL_ADC_Stop(&hadc2); HAL_Delay(500); } /* USER CODE END3*/

测试结果

输入固定电压进行测试。

ADC1 IN0(PA0) IN3(PA3) IN4(PA4)
输入电压 VCC 2.0V GND
ADC2 IN7(PA7) IN8(PB0) IN9(PB1)
输入电压 VCC GND 2.0V

测试结果如下。

GD32F103

  审核编辑:汤梓红

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记帖MCU 2022-11-29
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