直击4G产业链最困难部分-TD-LTE芯片测试

电子工程师 2017-12-06 333

RF/无线

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描述

　市场上有关TD-LTE的试商用已经如火如荼地开展起来。伴随着TD-LTE市场应用的不断发展，测试需求也在不断增加，测试仪表和测试系统作为TD-LTE产业链的重要组成部分，对于产品的性能、研发和产业化起到了关键的推动作用，特别是在有关终端测试的多模功能一体化测试系统、高速数据业务仿真测试系统、多网络共存条件下的网络优化工具等方面，TD-LTE提出了更高、更迫切的需求。测试仪表和系统厂商只有紧跟产业发展的脚步，及时开发出相应的产品，才能抢占市场先机。

　　商用在即终端测试是重点

　　终端测试成为整个产业链最困难的部分，大家的眼睛都盯着此类仪器设备的开发。

　　中国即将成为全球TD-LTE最大市场，并建成最大的TD-LTE网络。展望未来，TD-LTE有着巨大的发展空间，测试仪表和测试系统也蕴含着巨大的发展机遇。尽管商用脚步已经临近，各环节中最不让人放心的仍然是TD-LTE的终端性能。正如中国通信学会秘书长张新生所说，说到底TD-LTE能不能得到发展，终端是一个非常关键的因素。在TD-LTE的发展中，高难度的动作、复杂性的工作全留给终端了。TD-LTE多模多频才能满足需求，并且要在多模多频的条件下，解决功耗问题。此外，随着云的发展，移动互联网的发展，智能手机既是通信工具，又是上网工具，终端不仅是要关注硬件平台，还要关心操作系统和多种多样的应用，终端芯片设计的复杂性可见一斑。

　　而中电集团41所副总工程师刘祖深则表示，正因为如此，终端测试便成为整个产业链中非常关键的一部分，所以大家的眼睛都盯着此类仪器设备的开发。不过随着各方投入大量精力，已经开发出多款包括支持TD-LTE在内的终端测试方面的仪器仪表。41所也与大唐合作推出了相关综测仪产品，41所负责射频部分的开发。

　　罗德与施瓦茨公司中国区业务发展经理陈晓宗介绍，对于TD-LTE芯片的研发以及验证，R&S提供了基于CMW500平台的协议研发验证工具，还可以提供虚拟的协议测试方案，芯片开发人员提供了多种API接口，可以自定义不同的测试场景（如MLAPI、LLAPI等），并且有多种连接测试的方案，可以使用数字基带接口与基带芯片直连测试，也可以使用射频接口连接测试，为芯片的开发提供便利。

　　未来终端环节的测试重点将围绕终端上的各种应用而展开，确保在终端平台上运行的流畅性。

　　4G无线宽带顺利发展的关键在于应用。TD-LTE网络建成、无线传输带宽的加宽，意味着人们将进入真正的移动互联网时代，由此带来的科技和产业创新前景是无穷的。中国移动研究院副院长、GTI秘书长黄宇红介绍：“中国无线城市计划将会充分利用TD-LTE，从而推出许多创新的应用。”因此可以预见，未来终端环节的测试重点将围绕终端上的各种应用而展开，确保在终端平台上各种应用运行的流畅性。
对此，陈晓宗表示，R R CWM500（网络模拟）、R AMU（信道衰落模拟）、R VTE（视频测试仪）以及相应的测试控制软件R CONTEST Controller，除了标准的IP层吞吐量的测试，还可以对视频的性能进行客观评估。

　　TDD/FDD间无缝互操作将被业界关注

　　终端多模与互操作测试在应用中十分重要，测试厂商需不断将WCDMA和FDD等融入设备，供客户选用。

　　根据业内预测，此次三大运营商有望各获得一张TD-LTE牌照，并开放FDD-LTE申请，中国移动负责建设TD-LTE网络，而中国联通与中国电信建设TD-LTE与FDD-LTE混合网络。针对这一格局，高通无线通信技术（中国）有限公司高级技术总监吴小平发表演讲时提出了TDD/FDD的无缝互操作需求，指出未来TDD/FDD之间无缝互操作将成为业界关注的重点。

　　刘祖深表示，终端多模与互操作测试在实际应用中十分重要，测试仪器仪表厂商需不断将WCDMA和FDD等标准融入设备中，供客户选用。中电41所一直立足于自主开发，以实现仪器设备的国产化。以此搭建的测试系统才能拥有更好的性价比。

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