德赢Vwin官网
App
LED芯片观察(扫描电镜)SEM失效分析
- 芯片(407687)
- SEM(14323)
- 失效分析(66160)
相关推荐
轨道交通电子元器件失效分析
、衬底检查、扫描电镜检查、PN结染⾊、DB FIB、热点检测、漏电位置检测、弹坑检测、粗细捡漏、ESD 测试（2）常⻅失效模式分析：静电损伤、过电损伤、键合
2024-03-15 17:34:29
led失效分析-重点失效分析CNAS,CMA认证实验室
服务范围LED芯片、LED支架、LED封装胶、银浆、键合线、LED灯珠（COB、LAMP、TOP、CHIP）、LED灯具、灯具驱动电源。检测标准● GB/T15651-1995半导体器件分立器件
2024-03-15 09:23:03
MOSFET,IGBT功率器件失效根因分析功
基本介绍功率器件可靠性是器件厂商和应用方除性能参数外最为关注的，也是特性参数测试无法评估的，失效分析则是分析器件封装缺陷、提升器件封装水平和应用可靠性的基础。广电计量拥有业界领先的专家团队及先进
2024-03-13 16:26:07
如何推迟XilSEM扫描功能的开始？(二)
在 AMD Versal™ 器件中, SEM 功能的实现发生了很大变化，整个解决方案基于 library 实现。下面我们一起看一下如何推迟 XilSEM 扫描功能的开始。
2024-03-13 14:45:46
400
400
首样免费扫描电镜SEM-EDS测试分析【博仕检测】
【设备应用】
SEM是扫描电子显微镜，用二次电子成像的原理来观察某种物质的微观形貌。EDS是能谱仪，是每种元素对应的电子能不同，来鉴别元素，通常与SEM结合使用，也就是说在SEM上安装EDS附件，在
2024-03-01 18:59:58
透射电镜TEM测试解剖芯片结构：深入微观世界的技术探索
在芯片制造领域，透射电镜TEM技术发挥着至关重要的作用。通过TEM测试，科学家可以观察芯片中晶体结构的变化，分析晶体缺陷，研究材料界面结构，从而深入了解芯片的工作原理和性能。
2024-02-27 16:48:13134
134
扫描电镜的操作步骤及日常维护
扫描电镜按构造和用处可分为透射式电子显微镜、扫描式电子显微镜、反射式电子显微镜和发射式电子显微镜等。 扫描电镜常用于察看那些用普通显微镜所不能分辨的纤细物质构造，次要用于察看固体外表的形貌，也能与
2024-02-01 18:22:15603
603MOSFET,IGBT功率器件失效根因分析
; QJ3065.5-98元器件失效分析管理要求检测项目试验类型试验项⽬⽆损分析X 射线透视、声学扫描显微镜、⾦相显微镜电特性/电性定位分析电参数测试、IV&a
2024-01-29 22:40:29
扫描电镜为什么分辨率高，景深大，立体感强？
扫描电子显微镜是金属科研工作中应用最广泛的“神器”。可以说，几乎每一个研究生都把自己最重要的科研经历花在了身上。今天的我们就来介绍一下扫描电镜的原理和应用。 电子显微镜利用电子产生图像，类似于光学
2024-01-17 09:39:56146
146聚焦离子束与芯片失效分析与运用
去除表面钝化层、金属化层和层间介质后有时依然无法观察到失效点，这时候就需要对芯片进行进一步处理，对于多层布线的芯片干法腐蚀或者湿法腐蚀来逐一去除，直至最后一层金属化和介质层。
2024-01-09 15:17:27108
108SEM扫描电子显微镜涂层磨损分析
数字显微镜Smartzoom5和SEM扫描电子显微镜的解决方案。图a、b显示的是无涂层的钻头的切削刃口情况，图c、d显示的是金刚石涂层钻头的脱落情况；图a、c使用
2024-01-08 15:12:5298
98
矩阵led扫描频率怎么调
矩阵LED扫描频率是指LED矩阵在单位时间内刷新显示的次数。LED矩阵是由多个发光二极管（LED）组成的显示设备，通过扫描控制来实现各个LED的亮灭，从而显示出不同的图像或信息。调整矩阵LED扫描
2024-01-02 17:30:24361
361半导体芯片结构分析
切割对于芯片膜厚层为几十纳米的，可以选择用聚焦离子束FIB-SEM来做芯片截面形貌观察，SEM-EDS对于芯片的结构成分分析 做线性方向元素分析扫描，面扫描MAPPING来表征芯片结构的元素分析。
FIB剪
2024-01-02 17:08:51
如何理解扫描电子显微镜(SEM)中的充电效应
扫描电子显微镜（SEM）已广泛用于材料表征、计量和过程控制的研究和先进制造中，我们在对半导体材料和结构进行观测时，常常会遇到充电效应，本文讨论了与样品充电相关的一些问题以及减轻其影响的方法。
2023-12-29 15:57:12462
462
第20讲：DIPIPM™市场失效分析（2）
在了解了DIPIPM失效分析的流程后是不是会很容易地找到市场失效的原因了呢？答案是否定的。不管是对收集到的市场失效信息还是对故障解析报告的解读、分析都需要相应的专业技能作为背景，对整机进行的测试也需要相应的测试技能。
2023-12-27 15:41:37278
278
如何使用频谱分析仪来观察和分析杂散信号？
如何使用频谱分析仪来观察和分析杂散信号？ 频谱分析仪是一种广泛应用于电子领域的仪器，用于观察和分析信号的频谱特性。它可以帮助工程师们检测和排除信号中的杂散信号，确保设备的正常工作和无干扰的信号传输
2023-12-21 15:37:16592
592蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM 500介绍
蔡司代理三本精密仪器小编获悉，近期蔡司对中国科学技术大学龚明教授进行了采访，谈了对于蔡司场发射扫描电镜在工作研究中的使用感受：中国科学技术大学工程与材料科学实验中心副主任，材料显微分析实验室
2023-12-20 15:04:37226
226
浅谈失效分析—失效分析流程
▼关注公众号：工程师看海▼ 失效分析一直伴随着整个芯片产业链，复杂的产业链中任意一环出现问题都会带来芯片的失效问题。芯片从工艺到应用都会面临各种失效风险，笔者平时也会参与到失效分析中，这一期就对失效
2023-12-20 08:41:04530
530
扫描电镜的原理、优势、应用领域你都知道吗？
扫描电子显微镜能够以极高的分辨率观察样品表面的形貌和结构，是材料相关工作者和学者研究的有力工具之一。其应用范围非常广泛，甚至可以延伸到生物、医疗和工业领域。本文将对扫描电子显微镜
2023-12-19 15:31:37507
507
USB脱落失效分析
的焊锡空洞。 2）SEM表面特征分析 #位置3： 测试结果：剥离面有应力断裂痕迹，PCB镍层有裂纹。 #位置2： 测试结果：焊接面有较大的焊锡空洞，断裂面有应力断裂痕迹。 3）EDS成分分析 测试结果：剥离面主要成分为Sn、Ni, 未发现异常元素。 4）切片断面分析 #PCB侧脱落点切片断面
2023-12-18 09:56:12155
155
蔡司扫描电镜与X射线显微镜检测介绍
蔡司代理三本精密仪器小编介绍SEM扫描电镜与X射线显微镜是生命科学研究中的重要仪器，凭借其纳米级分辨率，SEM扫描电镜与X射线显微镜极大地提升了我们对生物超微结构的认识，-些亚细胞结构甚至是通过
2023-12-15 14:11:17142
142
阻容感失效分析
有一批现场仪表在某化工厂使用一年后，仪表纷纷出现故障。经分析发现仪表中使用的厚膜贴片电阻阻值变大了，甚至变成开路了。把失效的电阻放到显微镜下观察，可以发现电阻电极边缘出现了黑色结晶物质，进一步分析
2023-12-12 15:18:171020
1020
LED贴膜屏静态扫描和动态扫描有何区别？
LED贴膜屏静态扫描和动态扫描有何区别？ LED贴膜屏静态扫描和动态扫描是两种不同的驱动方式，它们在显示效果、功耗、刷新率、图像质量等方面存在一些区别。下面我将详细介绍这两种扫描方式，帮助你了解它们
2023-12-11 14:25:56448
448LED灯带失效分析
1、案例背景 LED灯带在使用一段时间后出现不良失效，初步判断失效原因为铜腐蚀。据此情况，对失效样品进行外观观察、X-RAY分析、切片分析等一系列检测手段，明确失效原因。 2、分析过程 2.1 外观
2023-12-11 10:09:07188
188
扫描电镜能测出线宽的真实长度吗？如何才能测准？
大部分扫描电镜实验室对于纳米尺寸的准确测量，要求没有那么严格，比如线宽或颗粒大小到底是105nm还是95nm，似乎不太重要
2023-12-09 17:36:52427
427
如何利用FIB和SEM中的有源和无源电位衬度进行失效定位呢？
无源电位衬度（Passive Voltage Contrast，PVC）定位基于导电结构的FIB或SEM图像或多或少的亮度差异，可用于半导体电路的失效定位。
2023-12-01 16:18:08514
514
差示扫描量热法热分析方法
差示扫描量热法（DSC）是一种热分析方法，在程序控制温度下，输入到试样和参比物的功率差与温度的关系。而差示扫描量热仪是利用这种方法，来测量材料的玻璃化转变温度、熔点、比热容和氧化诱导期，来对材料
2023-11-21 13:37:56374
374
蔡司扫描电镜Sigma系列：扫描电子显微镜的用途原来这么多
扫描电子显微镜是一种全自动的、非破坏性的显微分析系统，可针对无机材料和部分有机材料，迅速提供在统计学上可靠且可重复的矿物学、岩相学和冶金学数据，在采矿业，可用于矿产勘查、矿石表征和选矿工艺优化
2023-11-21 13:16:41235
235
光耦失效的几种常见原因及分析
将详细分析光耦失效的几种常见原因。 首先，常见的光耦失效原因之一是LED失效。LED是光耦发光二极管的核心部件，它会发出光信号。常见的LED失效原因有两种：老化和损坏。LED的使用寿命是有限的，长时间使用后会逐渐老化。老化后的LE
2023-11-20 15:13:441445
1445PCB失效分析技术概述
那么就要用到一些常用的失效分析技术。介于PCB的结构特点与失效的主要模式，其中金相切片分析是属于破坏性的分析技术，一旦使用了这两种技术，样品就破坏了，且无法恢复；另外由于制样的要求，可能扫描电镜分析和X射线能谱分析有时也需要部分破坏样品。
2023-11-16 17:33:05115
115一文带您了解扫描电子显微镜EBSD技术的原理、采集及分辨率
EBSD技术是一种常用的材料显微技术，全称电子背散射衍射。它通过测量反射电子的角度和相位差来确定样品的晶体结构和晶粒取向等特征。与传统的扫描电镜技术相比，EBSD技术具有更高的空间分辨率，可以获得亚微米级的晶体学数据。
2023-11-16 13:31:48366
366
SEM扫描电镜中钨灯丝与场发射的区别
相同点：都是电子枪即发射电子的装置，都有阴极和阳极,阴极都是点源发射，阴极和阳极之间有直流高压电场存在，高压一般可调，用于控制电子的发射速度（能量），电子枪发射的电流强度很小，微安级别和纳安级别，为防止气体电离造成的大电流击穿高压电源，都需要高真空环境。电子枪阴极都属于耗材系列。差异和优劣:1、点源直径不同及优劣：钨灯丝电子枪阴极使用0.1mm直径的钨丝制成
2023-11-10 18:43:39353
353什么是FIB？FIB有哪些应用？如何修改线路做FIB？FIB怎么做失效分析？
什么是FIB？FIB有哪些应用？如何修改线路做FIB？FIB怎么做失效分析？FIB还能生长PAD？FIB案例有些？ FIB是Focused Ion Beam（聚焦离子束）的缩写，是一种利用离子束刻蚀
2023-11-07 10:35:041668
1668钨灯丝扫描电镜使用的一些注意事项
钨丝扫描电子显微镜的总发射电流和光斑大，抗干扰能力和稳定性好。可在低真空下不充电对非导电样品进行成像，并可用于形貌观察、微观结构分析，以及断口形貌分析。分析，在材料、地质、矿产、冶金、机械、化学
2023-11-06 13:52:52176
176
国仪量子带您全景回顾2023全国电镜年会
在会议期间重磅发布了自主研制的聚焦离子束电子束双束显微镜DB500、超高分辨场发射扫描电子显微镜SEM5000X，标志着国产高端电镜发展进入全新阶段。显微学人以振兴电
2023-11-01 08:25:46523
523
一文带您了解钨灯丝扫描电镜的一些使用注意事项
钨丝扫描电子显微镜的发射电流和光斑都比较适中，抗干扰能力和稳定性比较好。可在低真空下对非导电样品进行成像，并可用于形貌观察、微观结构分析，以及断口形貌分析。分析，在材料、地质、矿产、冶金、机械、化学
2023-10-31 15:17:52249
249广东全自动SEM扫描电镜的原理和构造
广东全自动SEM扫描电镜是一种高分辨率的显微镜，通过扫描样品表面并利用电子信号生成图像。它与传统光学显微镜不同，能够提供更高的放大倍数和更好的表面细节。以下是广东全自动SEM扫描电镜的原理和构造
2023-10-31 15:12:41770
770高端新品发布！国产双束电镜+超高分辨电镜闪耀2023全国电镜年会
10月26日，2023年全国电子显微学学术年会在东莞市召开。国仪量子在会议期间重磅发布自主研制的聚焦离子束电子束双束显微镜DB500、超高分辨场发射扫描电子显微镜SEM5000X，开启了国产高端电镜
2023-10-29 08:25:471158
1158一文带您了解场发射扫描电镜
普通热发射扫描电子显微镜相比，场发射扫描电子显微镜具有更高的亮度和更小的电子束直径，即更小的束斑尺寸和更高的分辨率。是纳米尺度微区形貌分析的首选。 2. 文书组成 场发射扫描电子显微镜由场发射电子枪、电子束推进器、聚光透
2023-10-23 14:56:393838
3838
你了解扫描电镜的特点和结构吗
。 特点 制样简单、放大倍率可调范围宽、图像分辨率高、景深大、高保真度、真实的三维效果等特点。对于导电材料，它们可以直接放入样品室进行分析。对于导电性差或绝缘性差的样品，需喷涂导电层。 基本结构 从结构上看，扫描电镜主
2023-10-19 15:38:30357
357
芯片粘接失效模式和芯片粘接强度提高途径
芯片粘接质量是电路封装质量的一个关键方面，它直接影响电路的质量和寿命。文章从芯片粘接强度的失效模式出发，分析了芯片粘接失效的几种类型，并从失效原因出发对如何在芯片粘接过程中提高其粘接强度提出了四种
2023-10-18 18:24:02395
395
基于扇出型封装结构的芯片失效位置定位方法
本文主要设计了用于封装可靠性测试的菊花链结构，研究了基于扇出型封装结构的芯片失效位置定位方法，针对芯片偏移、ＲDL 分层两个主要失效问题进行了相应的工艺改善。经过可靠性试验对封装的工艺进行了验证，通过菊花链的通断测试和阻值变化，对失效位置定位进行了相应的失效分析。
2023-10-07 11:29:02410
410
CD-SEM是怎样测线宽呢？CD-SEM与普通SEM有哪些区别？
CD-SEM,全名Critical Dimension Scanning Electron Microscopy，中文翻译过来是：特征尺寸扫描电子显微镜。
2023-10-07 10:34:231434
1434
电镜常用元素分析方法：EDS、EELS、HAADF-STEM
不同的波长λ对应于不同的原子序数Z。根据这个特征能量， 即可知所分析的区域存在什么元素及各元素的含量。根据扫描的方式， EDS 可分为点分析、线扫描及面扫描三种：EDS 点分析是将电子束固定于样品中某一点上，进行定性或者定量的分析。
2023-09-28 15:54:341719
1719
LGA封装芯片焊接失效
NO.1 案例背景 某摄像头模组，在生产测试过程中发生功能不良失效，经过初步的分析，判断可能是LGA封装主芯片异常。 NO.2 分析过程 #1 X-ray分析 样品#1 样品#2 测试结果：两个失效
2023-09-28 11:42:21399
399
季丰电子新热场电子显微镜可帮助客户快速获取清晰的图像
季丰电子目前拥有蔡司GeminiSEM500扫描电镜SEM热场发射扫描电子显微镜，可为客户呈现任意样品表面更强的信号和更丰富的细节信息；尤其在低的加速电压下，可在避免样品损伤的同时，快速获取更高
2023-09-23 09:50:44375
375
2023国产扫描电镜技术应用研讨会顺利召开
（合肥）技术有限公司承办的“2023国产扫描电镜技术应用研讨会”在合肥召开。来自中国科学院、北京大学、中南大学、中国农科院、中国医学科学院、浙江中医药大学等高校科研
2023-09-13 08:30:05502
502各种材料失效分析检测方法
失效分析是一门发展中的新兴学科，近年开始从军工向普通企业普及，它一般根据失效模式和现象，通过分析和验证，模拟重现失效的现象，找出失效的原因，挖掘出失效的机理的活动。在提高产品质量，技术开发、改进，产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义。
2023-09-12 09:51:47291
291
集成电路为什么要做失效分析？失效分析流程？
失效分析(FA)是根据失效模式和现象，通过分析和验证，模拟重现失效的现象，找出失效的原因，挖掘出失效的机理的活动。
2023-09-06 10:28:051331
1331
聚焦离子束FIBSEM切片测试【博仕检测】
聚焦离子束-扫描电子显微镜双束系统 FIB-SEM应用
聚焦离子束-扫描电镜双束系统主要用于表面二次电子形貌观察、能谱面扫描、样品截面观察、微小样品标记以及TEM超薄片样品的制备。
1.FIB切片
2023-09-05 11:58:27
蔡司扫描电镜在第三代半导体领域的应用成果
扫描电子显微镜-电子通道对比成像（SEM-ECCI）是在扫描电子显微镜下直接表征晶体材料内部缺陷的技术。SEM-ECCI技术的发展已经取代了透射电子显微镜（TEM）在缺陷表征领域的部分功能。与TEM
2023-09-04 14:56:47356
356
集成电路失效分析
IC。然而，IC在使用过程中也可能出现失效的情况，从而影响到整个设备的使用效果。因此，对IC失效分析的研究变得越来越重要。 IC失效的原因有很多，例如因为工艺过程中的不良导致芯片内部有缺陷，或者长时间使用导致老化而出现失效等。为了找出IC失效的原因，在
2023-08-29 16:35:13627
627芯片失效分析方法 芯片失效原因分析
芯片失效分析方法 芯片失效原因分析 随着电子制造技术的发展，各种芯片被广泛应用于各种工业生产和家庭电器中。然而，在使用过程中，芯片的失效是非常常见的问题。芯片失效分析是解决这个问题的关键。 芯片
2023-08-29 16:29:112800
2800半导体失效分析
半导体失效分析 半导体失效分析——保障电子设备可靠性的重要一环 随着电子科技的不断发展，电子设备已成为人们生活和工作不可或缺的一部分，而半导体也是电子设备中最基本的组成部分之一。其作用是将电能转化
2023-08-29 16:29:08736
736EDS面扫、线扫、点扫的应用
能谱仪（EDS）是一种快速分析样品微区内元素种类及含量的重要工具，通常与扫描电镜（SEM）、透射电镜（TEM）组合使用，实现形貌与成分的对照。它的工作原理是：当电子束扫描样品时，不同元素被激发出来的x射线能量不同，通过探测这些特征X射线的能量与强度，可以确定样品中的元素组成和含量。
2023-08-29 09:43:241952
1952
钽电容失效分析 钽电容失效原因分析 钽电容烧坏的几种原因 ;我需要详尽、详实、细致的最少1500字的文
钽电容失效分析 钽电容失效原因分析 钽电容烧坏的几种原因 钽电容是一种电子元器件，通常用于将电场储存为电荷的装置。它们具有高电容和低ESR等优点，因此被广泛应用于数字电路、模拟电路和电源等领域。然而
2023-08-25 14:27:562133
2133国仪量子高速扫描电子显微镜HEM6000
“在大规模成像场景中，常规扫描电镜成像速度和自动化程度都无法满足应用需求。例如，在芯片结构成像应用中，需要在几周内完成数百平方毫米区域的连续拍摄；在人类脑图谱研究中，需要对百亿级神经元进行高分辨成像
2023-08-09 08:29:23453
453蔡司扫描电子显微镜(sem扫描电镜)
蔡司扫描电子显微镜(sem扫描电镜)对于材料科学、电子、地质、物理、化工、农医、公安、食品和轻工等领域的科学研究，人们总是关心微观形态、晶体结构和化学组成与宏观物理或化学性质之间的关系。光学显微系统
2023-08-08 15:50:351419
1419蔡司扫描电镜下金刚石形貌
金刚石矿物的晶体结构属于等轴晶系同极键四面体结构。碳原子位于四面体的角部和中心，具有高度的对称性。晶胞中的碳原子以同极键连接，距离为154pm。。常见的晶形有八面体、菱形十二面体、立方体、四面体和六面体等。钻石的应用范围非常广泛，例如:工艺品和工业中的切割工具。石墨在高温高压下能形成人造金刚石，也是一种珍贵的宝石。中国也有制造钻石的技术。需要注意的是，石墨和金刚石的物理性质是完全不同的。钻石有各种颜色，从无
2023-08-04 11:50:01458
458
SEM5000交付中国农科院作科所重大平台中心
场发射扫描电镜SEM5000正式上线使用左侧设备为钨灯丝扫描电镜SEM3200右侧设备为场发射扫描电镜SEM5000近日，国仪量子场发射扫描电镜SEM5000交付中国农科院作科所重大
2023-07-31 23:30:26350
350蔡司扫描电镜在半导体领域的应用成果
扫描电镜-电子通道衬度成像技术（SEM-ECCI）是一种在扫描电镜下直接表征晶体材料内部缺陷的技术。SEM-ECCI技术的发展在缺陷表征领域替代了一部分透射电镜（TEM）的功能，相对透射电镜分析而言
2023-07-31 15:59:56330
330
半导体器件键合失效模式及机理分析
本文通过对典型案例的介绍，分析了键合工艺不当，以及器件封装因素对器件键合失效造成的影响。通过对键合工艺参数以及封装环境因素影响的分析，以及对各种失效模式总结，阐述了键合工艺不当及封装不良，造成键合本质失效的机理；并提出了控制有缺陷器件装机使用的措施。
2023-07-26 11:23:15930
930蔡司热场扫描电镜Sigma 300电子显微镜
蔡司热场扫描电镜Sigma300电子显微镜能够对各种材质的导电和不导电样品、不同尺寸和形状的样品表面微观结构进行高分辨观察。配置能谱和背散射电子衍射仪附件可以实现样品表面微观区域内的成分和织构分析
2023-07-26 10:48:06650
650LED驱动电路图分享 LED驱动电路的工作原理和失效机理分析
随着市场需求的不断增加，近年从事LED制造和研发的人员大大增加。LED企业亦如雨后春笋般成长。由于从事LED驱动研发的企业和人众多，其技术水平参 差不齐，研发出来的LED驱动电路质量好坏不一。导致LED灯具的失效时常发生，阻碍了LED照明的市场推广。
2023-07-25 09:12:046864
6864
微波GaAs功率芯片AuSn共晶焊接微观组织结构研究
摘要:文中采用Au80Sn20共晶焊料对GaAs功率芯片与MoCu基板进行焊接，分析了焊接温度、摩擦次数等工艺参数对共晶焊接的影响，给出了GaAs芯片共晶焊的工艺参数控制要求，通过扫描电镜
2023-07-15 14:01:421276
1276
蔡司场发射扫描电镜SIGMA 500
蔡司场发射扫描电镜SIGMA500采用了GEMINI电子束无交叉光路设计，打破了传统设计中电子束交叉三次发生能量扩散的局限性，束流大小适中，极大地降低色差对图像质量的影响;镜筒内置电子束加速器，无需
2023-07-14 16:26:59916
916
EM科特 CUBE-Ⅱ台式桌面扫描电镜与传统扫描电镜的区别
EM科特（EmCrafts）Cube系列桌面式扫描电镜，是一款桌面紧凑型扫描电子显微镜。区别与传统扫描电镜的笨重机身，Cube系列占地面积小，便携性能好，可遵照客户服务指南任意移动SEM设备。 EM
2023-07-05 15:24:02433
433
关于EM科特 Veritas钨灯丝扫描电镜系列的特点分析
的高性能高效率，大样品仓内含5轴共心电动样品台，可更轻松地测量大尺寸样品。 EM科特 Veritas钨灯丝扫描电镜系列 产品优势 l大尺寸样品分析 Veritas系列可以分析常规SEM无法分析的大尺寸样品。例如：晶圆，磁盘 l无损样品分析 无需切割即可分析样品。例如PCB，半导体图案分析 l较重
2023-07-05 15:13:38270
270
SEM扫描电镜工作原理，SEM扫描电镜技术应用
等领域。SEM扫描电镜分析实验室图源：优尔鸿信华南检测中心SEM扫描电镜工作原理SEM电镜工作原理，主要基于聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品，通过光束与物质间的相
2023-07-05 10:04:061995
1995
AMEYA360谈蔡司场发射扫描电镜Sigma系列
近日，蔡司中国新一代场发射扫描电子显微镜Sigma系列新品线上发布会成功举行。为了满足新能源、新材料、电子半导体和集成电路、深海、航天、生命科学和考古学等热门领域高分辨率成像和综合分析的需要，蔡司
2023-07-04 15:39:24249
249
集成电路封装失效分析方法
集成电路封装失效分析就是判断集成电路失效中封装相关的失效现象、形式（失效模式），查找封装失效原因，确定失效的物理化学过程（失效机理），为集成电路封装纠正设计、工艺改进等预防类似封装失效的再发生，提升
2023-06-21 08:53:40572
572场发射扫描电镜GeminiSEM 500规格参数
今天三本精密仪器小编给您介绍场发射扫描电镜GeminiSEM500规格参数及样品制备要求：一、样品要求（1）本仪器不接收磁性、易潮、液体、有机、生物、不耐热、熔融蒸发、松动粉末或碎屑等有挥发物样品
2023-06-19 11:15:40813
813讲一下失效分析中最常用的辅助实验手段：亮点分析（EMMI）
EMMI：Emission microscopy 。与SEM，FIB，EB等一起作为最常用的失效分析手段。
2023-06-12 18:21:182310
2310
LED数显驱动芯片/数码管驱动芯片VK1650,LED驱动、键盘扫描，8段4位，8级亮度控制
产品品牌：永嘉微电/VINKA 产品型号：VK1650 封装形式：SOP16 产品年份：新年份 概述： VK1650是一种带键盘扫描电路接口的 LED 驱动控制专用芯片，内部集成有数
2023-06-10 09:17:301657
1657
喜提仪器行业大奖！国仪量子场发射扫描电镜SEM5000获“3i奖”
5月18日，2023第十六届中国科学仪器发展年会(ACCSI2023)在北京雁栖湖国际会展中心盛大开幕，并颁发“仪器及检测3i奖”。国仪量子自主研发的场发射扫描电镜SEM5000荣获“3i
2023-05-30 17:19:16366
366LED驱动电源失效的原因分析
LED驱动电源作为LED照明中不可或缺的一部分，对其电子封装技术要求亦愈发严苛，不仅需要具备优异的耐候性能、机械力学性能、电气绝缘性能和导热性能，同时也需要兼顾灌封材料和元器件的粘接性。那么在LED驱动电源的使用中，导致LED驱动电源失效的原因都有哪些呢?下面就跟随名锦坊小编一起来看看吧!
2023-05-18 11:21:19851
851浅谈抗静电指标差的LED失效分析案例
红光LED芯片是单电极结构，它两个电极之间的材质、厚度、衬底材料与双电极的蓝绿光LED不一样，所承受的静电能量要比双电极的高很多。
2023-05-15 09:26:20423
423
TVS二极管失效机理与失效分析
。
通过对TVS筛选和使用短路失效样品进行解剖观察获得其失效部位的微观形貌特征．结合器件结构、材料、制造工艺、工作原理、筛选或使用时所受的应力等。采用理论分析和试验证明等方法分析导致7rvS器件短路失效的原因。
2023-05-12 17:25:483678
3678
进口芯片失效怎么办？做个失效分析查找源头
芯片对于电子设备来说非常的重要，进口芯片在设计、制造和使用的过程中难免会出现失效的情况。于是当下，生产对进口芯片的质量和可靠性的要求越来越严格。因此进口芯片失效分析的作用也日渐凸显了出来，那么进口芯片失效分析常用的方法有哪些呢？下面安玛科技小编为大家介绍。
2023-05-10 17:46:31548
548rt_sem_control的使用场景是什么？
在信号量的api中有一个api: rt_sem_control ,目前只支持一个命令RT_IPC_CMD_RESET 即重置信号量值，在官方的demo中经常看到这种用法rt_sem
2023-05-05 17:26:37
培训通知｜国仪量子2023年第二期SEM线下应用培训班
课程简介为持续给国仪量子SEM用户提供高质量的使用体验，国仪量子电镜事业部将搭建一个用户与国仪量子应用专家之间进行深入技术交流的平台，定期开展在线和线下的应用培训课程。本次线下课程以小班形式进行教学
2023-04-21 09:20:47279
279半导体集成电路失效分析原理及常见失效分析方法介绍！
失效分析（FA）是一门发展中的新兴学科，近年开始从军工向普通企业普及。它一般根据失效模式和现象，通过分析和验证，模拟重现失效的现象，找出失效的原因，挖掘出失效的机理的活动。在提高产品质量，技术开发
2023-04-18 09:11:211360
1360
失效分析和可靠性测试：为什么SAM现在是必不可少的设备
对所有制造材料进行100%全面检查。 制造商测试实验室、研发中心、材料研究小组和质量控制部门，寻找微小缺陷正在刺激对扫描声学显微镜(SAM)设备的投资。失效分析和可靠性检测计量技术已变得至关重要，现在SAM与X射线和扫描电子显微镜(SEM)等其他实验室测试和测量仪器并驾齐驱。
2023-04-14 16:21:39925
925
喜报！国仪量子电子显微镜单年交付超100台
场发射扫描电镜SEM5000SEM5000是一款分辨率高、功能丰富的场发射扫描电子显微镜。先进的镜筒设计，高压隧道技术（SuperTunnel）、低像差无漏磁物镜设计，实现了低电压高分辨率成像，同时
2023-04-12 11:38:30572
572PCB失效分析技术总结
程中出现了大量的失效问题。 对于这种失效问题，我们需要用到一些常用的失效分析技术，来使得PCB在制造的时候质量和可靠性水平得到一定的保证，本文总结了十大失效分析技术，供参考借鉴。
2023-04-10 14:16:22749
749北京大学先进光子集成公共平台正式开放运行
该平台拥有超净间面积约300平方米，其中百级洁净区50平米，配备了可完整涵盖微加工需求的大、中、小型设备，包括电子束曝光机、扫描电镜、磁控溅射仪、等离子刻蚀机、快速退火炉、精密贴片机、匀胶机、离子溅射仪、膜厚计、原子力显微镜、任意波形发生器、高速采样示波器、信号分析仪、网络分析仪等。
2023-04-10 11:24:06712
712
工商网监
评论