德赢Vwin官网
App
金属氧化物可靠性测试SEM分析
- SEM(14323)
- 氧化物(8114)
相关推荐
提升开关电源可靠性：全面了解测试项目与标准
开关电源可靠性测试是检测开关电源质量、稳定性和质量的重要手段。可靠性测试也是开关电源测试的关键环节，以此评估开关电源的性能和使用寿命。
2024-03-21 15:50:27
83
83通用互补金属氧化物半导体 (CMOS) 多路复用器TMUX1208和TMUX1209数据表
德赢Vwin官网
网站提供《通用互补金属氧化物半导体 (CMOS) 多路复用器TMUX1208和TMUX1209数据表.pdf》资料免费下载
2024-03-20 17:27:10
0
0具有闩锁效应抑制特性的互补金属氧化物半导体(CMOS)开关TMUX722x数据表
德赢Vwin官网
网站提供《具有闩锁效应抑制特性的互补金属氧化物半导体(CMOS)开关TMUX722x数据表.pdf》资料免费下载
2024-03-20 13:49:530
0现代互补金属氧化物半导体 (CMOS) 模拟多路复用TMUX734xF数据表
德赢Vwin官网
网站提供《现代互补金属氧化物半导体 (CMOS) 模拟多路复用TMUX734xF数据表.pdf》资料免费下载
2024-03-20 11:27:500
0现代互补金属氧化物半导体 (CMOS) 模拟多路复用器TMUX7308F和TMUX7309F数据表
德赢Vwin官网
网站提供《现代互补金属氧化物半导体 (CMOS) 模拟多路复用器TMUX7308F和TMUX7309F数据表.pdf》资料免费下载
2024-03-20 11:14:040
0具有闩锁效应抑制特性的互补金属氧化物半导体 (CMOS) 开关TMUX7219M数据表
德赢Vwin官网
网站提供《具有闩锁效应抑制特性的互补金属氧化物半导体 (CMOS) 开关TMUX7219M数据表.pdf》资料免费下载
2024-03-20 11:12:390
0互补金属氧化物半导体 (CMOS) 多路复用器TMUX4827数据表
德赢Vwin官网
网站提供《互补金属氧化物半导体 (CMOS) 多路复用器TMUX4827数据表.pdf》资料免费下载
2024-03-20 10:57:050
0具有闩锁效应抑制特性的互补金属氧化物半导体 (CMOS) 开关TMUX7236数据表
德赢Vwin官网
网站提供《具有闩锁效应抑制特性的互补金属氧化物半导体 (CMOS) 开关TMUX7236数据表.pdf》资料免费下载
2024-03-20 10:56:000
0动车寿命评估与可靠性提升
服务内容横向科研技术支持和服务、高铁装备、零部件失效分析、可靠性试验方案及可靠性提升方案开发与执行、装备及系统健康管理技术方案开发及软硬件平台搭建。服务范围● 车体部件：侧窗、底部大部件、连接件等
2024-03-15 16:46:27
金属陶瓷胶黏剂封装工艺及可靠性研究
、湿热实验对封装可靠性进行验证，并以密封性能、剪切强度作为量化指标来表征，同时讨论了胶黏剂封装工艺中的常见缺陷及其改进方法。经研究分析得出：功率管胶黏剂封装在适合的固化温度、时间及压力条件下，可以获得优异的封装质量。
2024-03-05 08:40:3566
66
首样免费扫描电镜SEM-EDS测试分析【博仕检测】
观看形貌时，选择一定区域进行EDS测试，就能了解该区域的元素组成。
SEM/EDS能解决什么问题？我们可以从以下4方面进行分类：
微观形貌观察及尺寸测量，如断口显微形貌观察，电子产品内部结构观察，表
2024-03-01 18:59:58
Littelfuse宣布推出SM10金属氧化物压敏电阻系列
Littelfuse 宣布推出SM10压敏电阻系列，这是一款革命性的金属氧化物压敏电阻 (MOV)，旨在为汽车电子器件、电动汽车 (EV) 以及其他各类应用提供卓越的瞬态浪涌保护。
2024-02-20 09:51:23257
257HI-3182PSTF-N金属氧化物半导体器件
HI-3182PSX-N、HI-3182PSX-N, HI-3184PSX-N and HI-3185PSX-N总线接口产品是根据ARINC 429总线规范设计的硅栅互补式金属氧化物半导体器件。除了
2024-02-19 10:30:40
HI-8585PSIF 互补式金属氧化物半导体集成电路
和0伏零。互补式金属氧化物半导体/TTL控制输入被转换为ARINC指定的幅度。提供一个逻辑输入来控制差分输出信号的斜率。定时由片上电阻和电容器设置，并测试为符合AR
2024-02-19 09:26:34
结型场效应管和金属氧化物场效应管的分类
，即使不加栅源电压，也会形成反型层和导电沟道，在此基础上加负向电压沟道电阻变小，加正向电压导电沟道变小，而且正向电压减小到一定程度反型层消失导电沟道消失。
场效应管分为结型场效应管和金属氧化物场效应管
2024-01-30 11:38:27
可靠性测试中HALT实验与HASS实验的区别
电子产品高加速寿命测试HALT、高加速应力筛选测试HASS，都是可靠性测试的方法，用于评估电子产品在恶劣环境下的性能表现和可靠性。那他们之前的区别是什么呢，跟随本文来一起了解。
2024-01-30 10:25:44206
206
功率半导体模块,封装可靠性试验-功率循环测试
封装可靠性最重要的可靠性测试，也是进行器件寿命模型建立和寿命评估的根本。服务范围车规级功率器件模块及基于分立器件的等效特殊设计产品。检测标准● DINENISO/
2024-01-29 22:46:02
如何确保IGBT的产品可靠性
标准。安森美(onsemi)作为一家半导体供应商，为高要求的应用提供能在恶劣环境下运行的产品，且这些产品达到了高品质和高可靠性。之前我们分享了如何对IGBT进行可靠性测试，今天我们来介绍如何通过可靠性审核程序确保IGBT的产品可靠性。
2024-01-25 10:21:16997
997
IGBT的可靠性测试方案
在当今的半导体市场，公司成功的两个重要因素是产品质量和可靠性。而这两者是相互关联的，可靠性体现为在产品预期寿命内的长期质量表现。任何制造商要想维续经营，必须确保产品达到或超过基本的质量标准和可靠性
2024-01-17 09:56:32448
448
半导体封装的可靠性测试及标准介绍
本文将介绍半导体的可靠性测试及标准。除了详细介绍如何评估和制定相关标准以外，还将介绍针对半导体封装预期寿命、半导体封装在不同外部环境中的可靠性，及机械可靠性等评估方法。 什么是产品可靠性？ 半导体
2024-01-13 10:24:17712
712
食品包装用氧化物阻隔透明塑料复合膜水蒸气透过率测试仪
食品包装用氧化物阻隔透明塑料复合膜水蒸气透过率测试仪产品简介WVTR-C6水蒸气透过率测试系统，专业、高效、智能的WVTR高端测试系统，适用于塑料薄膜、复合膜等膜、医疗、建筑领域等多种材料的水蒸气
2024-01-05 16:32:43
3300V SiC MOSFET栅氧可靠性研究
摘要： 碳化硅 SiC功率器件因其卓越的材料性能，表现出巨大的应用前景，其中金属-氧化物-场效应晶体管 MOSFET是最重要的器件。3300 V SiC MOSFET 可应用于轨道交通和智能电网
2024-01-04 09:41:54599
599
广立微推出全新晶圆级可靠性测试设备
杭州广立微电子股份有限公司近日推出了一款全新的晶圆级可靠性（Wafer Level Reliability WLR）测试设备，该设备具备智能并行测试功能，能够显著缩短测试时间，提高工作效率。
2023-12-28 15:02:23362
362什么是汽车整车可靠性测试？
当今竞争激烈的汽车市场中，汽车的品质和可靠性已成为消费者选择的重要标准。通过整车可靠性测试，汽车制造商可以确保他们的产品在各种极端条件下都能表现出色，从而赢得消费者的信任和满意度。
此外，整车
2023-12-22 17:16:20357
357
船舶产品可靠性测试：保障海上航行的安全之锚
在进行船舶产品可靠性测试之前，需要进行了充分的准备工作。需要准备各种先进的测试设备和仪器。得以模拟真实使用环境中的条件，如温度、湿度、压力等，以确保测试的准确性和可靠性。
2023-12-22 17:14:28153
153
半导体可靠性测试项目有哪些
半导体可靠性测试主要是为了评估半导体器件在实际使用过程中的可靠性和稳定性。这些测试项目包括多种测试方法和技术，以确保产品的性能、质量和可靠性满足设计规格和用户需求。下面是关于半导体可靠性测试的详细
2023-12-20 17:09:04696
696三环阻燃型小型金属氧化膜固定电阻器
阻燃型小型金属氧化膜固定电阻器以高温烧结导电膜技术为基础，通过在氧化铝陶瓷基体表面精心烧结导电膜层，经过一系列精密工艺步骤制造而成。在制程中，经过压帽分选、刻槽定值、焊接引出线、涂覆阻燃性外封漆以及标识色码等工艺步骤，确保产品具备卓越的性能和可靠性。
2023-12-18 17:15:38133
133
SD NAND 可靠性验证测试
SDNAND可靠性验证测试的重要性SDNAND可靠性验证测试至关重要。通过检验数据完整性、设备寿命、性能稳定性，确保产品符合标准，可提高产品的可信度、提高品牌声誉，减少维修成本，确保
2023-12-14 14:29:34164
164
电源模块测试分享之电源可靠性测试方法
可靠性测试是电源模块测试的一项重要测试内容，是检测电源模块稳定性、运行状况的重要测试方法。随着对电源模块的测试要求越来越高，用电源模块测试系统测试电源模块可以提高测试效率，确保测试结果可靠性，满足测试要求。
2023-12-13 15:36:36384
384
广立微推出晶圆级可靠性测试设备
近日，杭州广立微电子股份有限公司正式推出了晶圆级可靠性（Wafer Level Reliability WLR）测试设备。该产品支持智能并行测试，可大幅度缩短WLR的测试时间。同时，可以结合广立微提供的定制化软件系统来提升用户工作效率。
2023-12-07 11:47:37434
434
振弦采集仪在安全监测中的可靠性与精度分析
振弦采集仪在安全监测中的可靠性与精度分析 振弦采集仪在土体与岩体监测中是一种常见的监测手段，它可以通过采集岩体或土体振动信号来判断其稳定性和变形情况。在实际应用中，振弦采集仪的可靠性和精度是极为重要
2023-12-06 13:31:33155
155
振弦采集仪在土体与岩体监测中的可靠性与精度分析
振弦采集仪在土体与岩体监测中的可靠性与精度分析 振弦采集仪是一种用于土体和岩体监测的重要设备，它可以通过测量振动信号来获取土体或岩体的力学参数，如应力、应变、弹性模量等。而振弦采集仪的可靠性和精度
2023-12-06 13:27:26122
122浅谈车规级芯片的可靠性测试方法
加速环境应力可靠性测试：需要对芯片进行加速环境应力测试，模拟高温、低温、湿热和温度循环等极端环境条件。这些测试旨在评估芯片在极端温度条件下的可靠性和稳定性。
2023-12-05 14:05:28565
565提高PCB设备可靠性的技术措施
可靠、工艺成熟、先进。
电路、结构设计中，应尽量减少接插件、金属化孔的数量，电路器件和芯片尽量采用直接在印制板上焊接的方法，选用表面贴装器件，采用表面贴装技术，以避免接触不良，确保设备的可靠性
2023-11-22 06:29:05
如何提升基于DC-DC模块的电源系统的可靠性？
如何提升基于DC-DC模块的电源系统的可靠性？ 基于DC-DC模块的电源系统可靠性是关乎设备稳定运行的重要因素。为了提高可靠性，我们可以从设计、选型、制造、测试和维护等方面进行优化和改进。以下是一些
2023-11-17 14:35:58323
323浅谈通信设备用光电子器件可靠性测试标准（下）
器件可靠性验证是GR-468最重要的一个项目，标准对光电子器件可靠性试验的执行程序与主要项目（测试项，试验条件，样本量等）进行了说明。主要测试内容分为器件性能测试、器件应力测试和器件加速老化测试。
2023-11-10 17:47:27628
628半导体可靠性测试有哪些测试项目？测试方法是什么？
可靠性测试是半导体器件测试的一项重要测试内容，确保半导体器件的性能和稳定性，保证其在各类环境长时间工作下的稳定性。半导体可靠性测试项目众多，测试方法多样，常见的有高低温测试、热阻测试、机械冲击测试、引线键合强度测试等。
2023-11-09 15:57:52748
748
芯片的老化试验及可靠性如何测试？
芯片的老化试验及可靠性如何测试？ 芯片的老化试验及可靠性测试是评估芯片性能和使用寿命的关键步骤。老化试验旨在模拟芯片在长期使用过程中可能遭遇的各种环境和应激，并确定芯片的可靠性和耐久性。本文将详细
2023-11-09 09:12:011120
1120基于金属氧化物的一氧化碳传感器的挑战与发展
的气敏材料十分丰富，其中金属氧化物敏感材料由于其良好的电学、光学以及传感特性被广泛应用。气体传感器性能的改进主要依托于敏感材料的形貌修饰以及不同材料之间的掺杂与复合，以起到“1+1>2”的作用，使之具备更优异的灵敏度和选择
2023-11-06 09:04:36573
573
电子产品的生命之源：可靠性测试的力量
半导体器件可靠性测试指的是评估半导体器件在不同工作条件下的长期稳定性和可靠性的一系列测试和分析方法。这些测试旨在确保半导体器件在其设计寿命内能够正常运行，不会出现意外故障，从而满足用户和应用的需求
2023-10-25 09:19:15635
635
什么是可靠性测试？智能钥匙的可靠性测试
智能钥匙是一种新型的智能家居设备，它使你可以通过手机或者其他智能设备轻松地控制你的房门、车门、办公室等入口。智能钥匙可以提供更加便捷、安全和智能化的操作方式，但是这种设备并非完美无缺，它也面临着一些风险和缺陷，需要经过可靠性测试，确保它能够可靠地运行。
2023-10-17 14:07:57239
239
电子元器件测试软件助力可靠性测试，保证器件性能和质量
电子元器件可靠性测试是保证元器件性能和质量的一个重要测试项目，同时也是电子设备可靠性的基础。常见的可靠性测试项目有机械冲击测试、高温存储测试、温度循坏测试、引线键合强度测试等。
2023-10-11 14:49:05350
350
以创新研发引领未来 金属氧化物面板技术引领行业新潮流
华映科技拥有自主研发的金属氧化物面板技术，这是目前国内领先的氧化物器件技术。这种技术的突破，使得华映科技在全球显示行业的地位日益提升。2023年，公司的一款12.6寸金属氧化物2.5K高刷高灵敏臻彩屏，在第十一届中国电子信息博览会上荣获了显示创新奖。
2023-10-10 16:57:09456
456扇出型封装结构可靠性试验方法及验证
基于可靠性试验所用的菊花链测试结构，对所设计的扇出型封装结构进行了完整的菊花链芯片制造及后道组装工艺制造，并对不同批次、不同工艺参数条件下的封装样品进行电学测试表征、可靠性测试和失效样品分析。
2023-10-08 10:18:15217
217
振动试验 环境可靠性测试
服务内容广电计量是国内振动试验能力较完善的权威检测认证服务机构之一，配备了（1~35）吨不同推力的振动台，可满足不同尺寸、重量的样品的振动测试需求。服务范围本商品可提供针对家用电器、汽车零部件、线束
2023-09-21 16:52:00
功率器件可靠性试验测试项目
龙腾半导体建有功率器件可靠性与应用实验中心，专注于产品设计验证、参数检测、可靠性验证、失效分析及应用评估，公司参考半导体行业可靠性试验条件和抽样原则，制定产品可靠性规范并依此对产品进行完整可靠性验证。
2023-09-20 16:29:21808
808
龙腾半导体建有功率器件可靠性与应用实验中心
走进龙腾实验室 功率器件可靠性试验测试项目系列专题（一） 可靠性实验室介绍 龙腾半导体建有功率器件可靠性与应用实验中心，专注于产品设计验证、参数检测、可靠性验证、失效分析及应用评估，公司
2023-09-12 10:23:45698
698
110kV金属氧化物避雷器的停电预防性试验（MOA的结构原理）
本课程介绍了110kV金属氧化物避雷器的停电预防性试验。首先介绍了MOA的结构原理及M0A预防目的意义。
在电力线上如安装氧化锌避雷器后，当雷击时，雷电波的高电压使压敏电阻击穿，雷电流通过压敏电阻流入大地，使电源线上的电压控制在安全范围内，从而保护了电器设备的安全。
2023-09-01 10:14:06728
728
石墨烯负载金属氧化物催化剂的制备方法
石墨烯作为一种特殊的二维材料，具有高导电性、 高比表面积以及优异的化学和机械稳定性，金属氧化物纳米颗粒与石墨烯结合制备获得的复合催化剂材料，可增强催化剂体系的导电性、分散性、ORR活性以及稳定性
2023-08-11 10:45:39364
364可靠性证明测试：高度加速寿命测试
寿命测试是一种重要的可靠性测试方法，用于评估组件、子系统或系统在预期或指定的使用寿命条件下的性能和可靠性。寿命测试旨在模拟实际应用环境中物品所面临的各种因素和应力，例如时间、温度、振动、冲击、电压等，并通过持续的测试和监测来观察物品在这些条件下的行为。
2023-08-01 16:31:20505
505半导体可靠性测试有哪些
在半导体器件中，常见的一些加速因子为温度、湿度、电压和电流。 在大多数情况下，加速测试不改变故障的物理特性，但会转移观察时间。 加速条件和正常使用条件之间的转移称为“降额”。那么半导体可靠性测试有哪些？让凯智通小编告诉你~
2023-07-13 14:47:182548
2548
详细的理解可靠性分配
总之，可靠性分配是一种有助于理解复杂系统可靠性的方法。通过将系统分解为更小的组件，并为每个组件分配可靠性指标，可以进行更详细和全面的可靠性分析，从而提高系统的可靠性和性能。
2023-07-11 10:48:01810
810电子产品常规的可靠性测试项目有哪些？
和储存的环境条件下的性能，并分析研究环境因素的影响程度及其作用机理。191-0751-6775陈S 常规的可靠性测试项目如下： 1、气候环境测试：高温测试、低温测试、温湿度循环/恒定湿热测试、冷热冲击测试、快速温变测试、低气压测试、
2023-07-04 14:30:441184
1184车规级功率器件可靠性测试难点及应用场景
车规级功率器件未来发展趋势
材料方面: SiC和GaN是必然趋势，GaAs在细分领域有可能
●封装方面:高功率密度、高可靠性和定制化
●评测方面:多应力综合测试方法、新型结温测试方法和技术
●进展方面:国产在赶超进口(参数和性能)，可靠性还需要时间沉淀
2023-07-04 10:48:05415
415
华秋干货铺：PCB板表面如何处理提高可靠性设计
PCB板为什么要做表面处理？
由于PCB上的铜层很容易被氧化，因此生成的铜氧化层会严重降低焊接质量，从而降低最终产品的可靠性和有效性，为了避免这种情况的发生，需要对PCB进行表面处理。
常见的表面
2023-06-25 11:17:44
PCB板表面如何处理提高可靠性设计
PCB板为什么要做表面处理？
由于PCB上的铜层很容易被氧化，因此生成的铜氧化层会严重降低焊接质量，从而降低最终产品的可靠性和有效性，为了避免这种情况的发生，需要对PCB进行表面处理。
常见的表面
2023-06-25 10:37:54
液氮恒温器在氧化物界面的新应用
锦正茂的液氮恒温器在氧化物界面处的二维电子体系（2DES）做为一个独特的平台，将典型复合氧化物、强电子相关的低温物理特性以及由2DES有限厚度引起的量子限域集成于一体。
2023-06-19 11:14:56204
204
宏展 Lab Companion 可靠性双85试验
为温度85℃，且湿度为85%的条件下，对试验体进行老化测试，也就是严酷的环境可靠性试验，比较常用的测试时间为1000小时，主要检验产品在高温高湿的恶劣环境下所能承
2023-06-12 16:52:50456
456
军用电子元器件二筛，进口元器件可靠性筛选试验
军用电子元器件二筛，二次筛选试验，进口元器件可靠性筛选试验
按性质分类：
（1）检查筛选：显微镜检查、红外线非破坏检查、X射线非破坏性检查。
（2）密封性筛选：液浸检漏、氦质谱检漏、放射性示踪检漏
2023-06-08 09:17:22
如何提高芯片测试准确性和可靠性老化座
芯片测试治具是一种用于芯片测试的实验室设备，可以实现芯片的功能测试、参数测试和性能测试，它可以帮助电子工程师验证芯片的性能和可靠性，实现芯片的精确测试和优化。
2023-05-30 15:26:25453
453汽车零部件环境可靠性实验室及电磁兼容EMC测试机构
试验，电压暂降测试，骚扰功率试验，电磁抗扰试验室，射频测试，电磁场辐射试验，抗绕度试验，电瞬态干扰试验，插入损耗试验等。
可靠性试验/可靠性测试：
可靠性强化试验，加速寿命试验（halt），环境应力筛选试验（ess），可靠性验收试验，可靠性鉴定试验，可靠性增长试验。
2023-05-23 15:55:57
几种常见的芯片可靠性测试方法
可靠性测试对于芯片的制造和设计过程至关重要。通过进行全面而严格的可靠性测试，可以提前发现并解决潜在的设计缺陷、制造问题或环境敏感性，从而确保芯片在长期使用中的性能和可靠性。
2023-05-20 16:47:5211462
11462
可制造性、可靠性和可测性协同设计
可制造性设计 (Design for Manufacturabiity， DFM)、可靠性设计 (Designfor Reliability， DFR)与可测试性设计 (Design
2023-05-18 10:55:541430
1430
北京2023年6月15-17日《硬件电路可靠性设计、测试与案例分析》即将开课！
课程名称：《硬件电路可靠性设计、测试与案例分析》讲师：王老师时间地点：北京6月15日-17日主办单位：赛盛技术课程特色1.案例多，案例均来自于电路设计缺陷导致的实际产品可靠性问题2.课程内容围绕电路
2023-05-18 10:40:50350
350
求分享MPC5200CVR400B和PCF8582C-2T/03可靠性数据
我想知道产品MPC5200CVR400B和PCF8582C-2T/03的MTBF或FIT值来做可靠性预测工作
2023-05-17 08:49:55
评估汽车PCB制造商可靠性的5种可靠方法
计划和先前的质量分析，然后进行FMEA（故障模式和影响分析）分析并提出防止产品潜在故障的措施，MSA（测量系统分析）必须分析测量结果的变化以确认测量可靠性，SPC（统计过程控制）掌握生产规程并使用统计技术来
2023-04-24 16:34:26
通过柔性和刚硬的PCB简化装配并提高可靠性
昂贵且复杂的离散互连电缆会降低设计的可靠性，增加设计成本和总体设计尺寸。幸运的是，还有其他形式的柔性和柔性刚硬的PCB.柔性PCB可以为您提供满足您的设计互连要求的经济高效且方便的解决方案，并
2023-04-21 15:52:50
《炬丰科技-半导体工艺》金属氧化物半导体的制造
书籍：《炬丰科技-半导体工艺》 文章：金属氧化物半导体的制造 编号：JFKJ-21-207 作者：炬丰科技 概述 CMOS制造工艺概述 CMOS制造工艺流程 设计规则 互补金属氧化物
2023-04-20 11:16:00247
247
失效分析和可靠性测试：为什么SAM现在是必不可少的设备
对所有制造材料进行100%全面检查。 制造商测试实验室、研发中心、材料研究小组和质量控制部门，寻找微小缺陷正在刺激对扫描声学显微镜(SAM)设备的投资。失效分析和可靠性检测计量技术已变得至关重要，现在SAM与X射线和扫描电子显微镜(SEM)等其他实验室测试和测量仪器并驾齐驱。
2023-04-14 16:21:39925
925
碳化硅SiC MOSFET:低导通电阻和高可靠性的肖特基势垒二极管
Toshiba研发出一种SiC金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFET)，其将嵌入式肖特基势垒二极管（SBD）排列成格子花纹（check-pattern embedded SBD），以降低导通电
2023-04-11 15:29:18
PCB设计中的可靠性有哪些？如何提高PCB设计的可靠性呢？
PCB设计中的可靠性有哪些？ 实践证明，即使电路原理图设计正确，如果PCB设计不当，也会对电子设备的可靠性产生不利的影响。举个简单的例子，如果PCB两条细平行线靠得很近的话，则会造成信号波形
2023-04-10 16:03:54
半导体器件在高温环境下的可靠性
半导体元器件在高温环境下的可靠性是制造商和用户十分关注的问题。高温试验是一种常用的测试方法，通过模拟实际使用中的高温环境，可以评估元器件在高温下的性能和可靠性。高温试验需要仔细设计实验方案，包括选择
2023-04-07 10:21:03766
766
氧化锌压敏电阻的原理是什么？有何特点？
氧化锌压敏电阻以氧化锌（ZnO）为基料，加入Bi2O3、Co2O3、MnCO3等多种金属氧化物混合，经过高温烧结、焊接、包封等多重工序制成的电阻器
2023-03-30 10:26:261973
1973服务器可靠性设计原理及分析方法
可靠性/可用性验证测试FIT:定义及目的
FIT (Fault Injection Test) :故障注入测试,通过向系统注入在实际应用中可能发生的故障,观察系统功能性能变化,故
障检测、定位、隔离以及故障恢复情况，发现产品缺陷、评估系统可靠性的测试方法。
2023-03-29 09:18:47589
589在哪里获得PCA85073ADP/FS32K144HAT0MLHT可靠性测试报告？
嗨，我在哪里可以获得以下芯片的可靠性测试报告？FS32K144HAT0MLHTPCA85073ADPTJA1044GT/3
2023-03-23 06:20:13
工商网监
评论